[发明专利]接近式曝光用光掩模在审
| 申请号: | 202110618642.8 | 申请日: | 2021-06-03 |
| 公开(公告)号: | CN113805428A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
| 发明(设计)人: | 齐藤隆史 | 申请(专利权)人: | 株式会社SK电子 |
| 主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38;G03F1/76;G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;徐飞跃 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 接近 曝光 用光 | ||
1.一种光掩模,其是用于形成黑色矩阵的接近式曝光用光掩模,其特征在于,
所述光掩模包含仅形成有由遮光膜的图案构成的遮光部和由半透过膜的图案构成的半透过部中的任一者的图案形成区域,并且
在所述图案形成区域的所述遮光部与所述半透过部的边界部具备不会因曝光光而析像的大小的第一辅助图案及第二辅助图案,
所述遮光膜的图案是规定在曝光后线宽不同的至少两种空间图案的图案形状,
所述两种辅助图案均是一定线宽的图案形状,使得与不具备所述辅助图案的情况相比在曝光后相对提高所述边界部的曝光时的曝光强度的均匀性,并且
所述第一辅助图案形成在第一线宽的空间图案的端部,
所述第二辅助图案形成在比所述第一线宽粗的第二线宽的空间图案的端部,
所述第二辅助图案与所述第一辅助图案相比线宽更粗。
2.根据权利要求1所述的光掩模,其特征在于,所述第一辅助图案及第二辅助图案的透射率相等。
3.根据权利要求1或2所述的光掩模,其特征在于,所述第一辅助图案及第二辅助图案的透射率为30%~50%。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的光掩模,其特征在于,所述第一辅助图案及第二辅助图案的线宽为1.0μm~6.0μm。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的光掩模,其特征在于,所述第一辅助图案及第二辅助图案的相位差为5°以下。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的光掩模,其特征在于,所述第一辅助图案及第二辅助图案由铬的氧化物构成。
7.根据权利要求1~4中任一项所述的光掩模,其特征在于,所述第一辅助图案及第二辅助图案至少在g射线、h射线及i射线间曝光波长对透射率的依赖性小。
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G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备





