[发明专利]抗辐射干扰瞬态x射线测量装置

权利要求书

1.一种抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于，包括：

无源模块(A)，其包括壳体组件(1)，以及位于所述壳体组件(1)内部的半导体感应芯片(3)、第一准直镜(8)和第二准直镜(13)，所述第一准直镜(8)与半导体感应芯片(3)之间设有入射光路，所述半导体感应芯片(3)与第二准直镜(13)之间设有反射光路；

有源模块(B)，其安装在壳体组件(1)远离所述半导体感应芯片(3)的一端，所述有源模块(B)包括舱体(26)，以及位于舱体(26)内部的光纤激光器(18)、第三准直镜(19)和图像传感器(23)，其中，光纤激光器(18)与所述第一准直镜(8)之间连接有第一光纤(9)，第三准直镜(19)所述第二准直镜(13)之间连接有第二光纤(15)，所述第三准直镜(19)与图像传感器(23)之间设有接收光路。

2.根据权利要求1所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述壳体组件(1)包括飞行管道(5)和连接在飞行管道(5)前端的锥型壳体(2)，所述半导体感应芯片(3)安装在锥型壳体(2)内。

3.根据权利要求2所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述半导体感应芯片(3)安装在锥型壳体(2)的轴线上，所述第一准直镜(8)和第二准直镜(13)的轴线均相对于锥型壳体(2)的轴线偏移设置，所述第一准直镜(8)的轴线上依次设置有第一分光棱镜(7)和第一反射镜(6)，锥型壳体(2)的轴线上设置有第二分光棱镜(11)，第二准直镜(13)的轴线上设置有第二反射镜(12)，所述入射光路依次经过第一分光棱镜(7)、第一反射镜(6)和第二分光棱镜(11)，所述反射光路依次经过第二分光棱镜(11)、第一反射镜(6)、第一分光棱镜(7)和第二反射镜(12)。

4.根据权利要求1所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述图像传感器(23)相对于第三准直镜(19)的轴线偏移设置，所述接收光路上依次设置有第三反射镜(20)、第四反射镜(21)和成像透镜(22)。

5.根据权利要求1所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述舱体(26)内设置有用于向光纤激光器(18)和图像传感器(23)供电的供电模块(24)。

6.根据权利要求2所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述舱体(26)固定连接在飞行管道(5)的后端，所述第一光纤(9)和第二光纤(15)在对应舱体(26)与飞行管道(5)过渡的位置分别设置有第一光纤转接头(16)和第二光纤转接头(17)。

7.根据权利要求1所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述壳体组件(1)和舱体(26)内均设置有铅屏蔽体(4)。

8.根据权利要求7所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述壳体组件(1)的长度方向依次安装有两组所述铅屏蔽体(4)。

9.根据权利要求7所述的抗辐射干扰瞬态x射线测量装置，其特征在于：所述舱体(26)靠近壳体组件(1)的一侧内壁设有所述铅屏蔽体(4)。