[发明专利]一种螺钉数据预测模型的处理系统在审
| 申请号: | 202110616760.5 | 申请日: | 2021-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN113569105A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
| 发明(设计)人: | 轩亮;洪文雄;于全全;沈永康;张延河 | 申请(专利权)人: | 江汉大学 |
| 主分类号: | G06F16/903 | 分类号: | G06F16/903;G06N20/00;G06N3/08;G01B11/14 |
| 代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 张晓冬 |
| 地址: | 430056 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 螺钉 数据 预测 模型 处理 系统 | ||
1.一种螺钉数据预测模型的处理系统,其特征在于,所述系统包括数据采集系统、激光测量系统以及工作站;
在所述工作站的触发下,所述数据采集系统采集双工器的过滤信号在不同工作状态下的样本过滤信号,所述激光测量系统采集所述双工器的螺钉在所述不同工作状态下的样本螺钉数据,所述螺钉用于调节所述双工器的过滤信号的波形;
所述工作站将每组的所述样本过滤信号以及对应的所述样本螺钉数据作为训练数据,并将每组所述样本数据依次输入初始模型,进行正向传播,并根据模型输出的螺钉数据计算损失函数,根据损失函数计算结果进行反向传播,优化模型参数,当完成预设的模型训练条件时,将完成模型训练的模型作为螺钉数据预测模型,所述螺钉数据预测模型用于根据输入的所述双工器的调试任务的任务数据预测目标波形匹配的目标螺钉数据,所述调试任务用于将所述双工器的过滤信号的波形调节至所述目标波形。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述激光测量系统包括定位平台、激光位移传感器、两用螺丝刀以及传感器固定架;
所述激光测量系统在采集所述样本螺钉数据的过程中,两用螺丝刀的套筒固定于所述螺钉表面,所述激光位移传感器垂直固定于所述定位平台的固定架,并移动到所述两用螺丝刀受测平面正上方,所述激光位移传感器测得传感器头与所述两用螺丝刀受测平面之间的距离,定义为初值,待所述两用螺丝刀将所述螺钉旋转到预设深度后,所述激光位移传感器测得所述传感器头与所述两用螺丝刀受测平面之间的距离,定义为终值,测量完成后将所述初值、所述终值以及螺钉位置进行记录,作为所述样本螺钉数据。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述两用螺丝刀的杆体的顶端为一个圆形受光平面,作为所述两用螺丝刀受测平面承载所述激光位移传感器射出的激光,所述两用螺丝刀的杆体的底端为螺丝刀头,所述两用螺丝刀的杆体中部为丝杠结构。
4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述定位平台的重复定位精度≤±10μm,绝对定位精度在20μm-30μm之间。
5.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述激光测量系统通过USB通信方式或者以太网通信形式,输出所述样本螺钉数据。
6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述数据采集系统包括示波器以及处理设备;
所述数据采集系统在采集所述样本过滤信号的过程中,所述示波器提取所述双工器输出的第一样本过滤信号,所述处理设备从所述示波器提取到的第一样本过滤信号中,按照预设时长以及预设的单位数据点数量,截取出第二样本过滤信号,并对所述第二样本过滤信号进行降噪以及特征提取,得到所述样本过滤信号。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述处理设备通过无线通信方式,输出所述样本过滤信号。
8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述工作站上搭建一数据库服务器,所述数据库服务器存储所述样本螺钉数据以及所述样本过滤信号,供数据分析使用。
9.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述样本过滤信号的波形特征包括波形偏移量、主波形峰值以及辅助波形峰值,所述样本螺钉数据包括螺钉型号以及螺钉旋入量。
10.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述工作站在完成模型训练得到所述螺钉数据预测模型后,向用户输出所述螺钉数据预测模型。
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