[发明专利]内套圈平面度测量仪有效
| 申请号: | 202110615895.X | 申请日: | 2021-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN113340184B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
| 发明(设计)人: | 张华;付华 | 申请(专利权)人: | 上海佘山精密轴承有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
| 代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 温开瑞 |
| 地址: | 201600 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 内套圈 平面 测量仪 | ||
本申请涉及一种内套圈平面度测量仪,涉及轴承套圈检测的领域,其包括底座、定位板、立柱、测量架、测量仪表、杠杆架、第一弹簧和转轴,底座远离立柱的端部转动连接有支撑柱,支撑柱远离底座的端部可拆式固定有用于固定内套圈的三爪卡盘,支撑柱的外周壁固定套设有圆环,且圆环的边缘处开设有多个固定槽,底座滑移设置有与固定槽卡接适配的固定块,测量架与底座之间设置有用于驱使固定块滑移的驱动机构。本申请具有便于定位内套圈不平整区域的效果,可以协助生产人员修整内圈套,有利于提升成品轴承的质量。
技术领域
本申请涉及轴承套圈检测的领域,尤其是涉及一种内套圈平面度测量仪。
背景技术
由于高精度轴承套圈的平面度直接影响套图的沟摆和垂直差,进而影响到整套轴承的旋转精度与性能。目前行业内现有的平面度测量方式通常是将内套圈被测平面与一基准面用色研合,通过被测平面着色后的着色面积的百分比来判断平面度是否符合要求,此种测量方法应用不便且测量结果不能量化,测量效率低,误差大。
现有的专利申请号为CN201210087729.8的中国专利,提出了一种内套圈平面度测量仪,包括底座,还包括安装在底座上的定位板,安装在定位板上的立柱和设置在立柱上的测量架,定位板可沿底座来回移动,测量架中包括一个通孔,通孔中安装有测量仪表;测量架还连接有杠杆架,测量架与杠杆架活动连接,测量架与杠杆架之间还通过弹簧拉紧;杠杆架上还设置有触点块,触点块位于通孔的下方,并与测量仪表测头接触;杠杆架的末端设置有测头;底座上远离立柱的一端固定有支撑柱,支撑柱上安装有端面坐垫支承,立柱上还安装有内径支承,内径支承位于端面坐垫支承上方;内径支承外缘有弹簧顶压的合金球;内径支承上方还安装有压盖。
上述中的相关技术,存在有如下缺陷:在对内套圈的平面度进行测量时,用手按压内套圈旋转,当杠杆架发生转动时,由于平整度的偏差尺寸一般较小,检测人员很难感受到杠杆架的转动,导致检测人员不容易定位内套圈不平整的区域。
发明内容
为了改善内套圈不平整的区域不易被定位的问题,本申请提供一种内套圈平面度测量仪。
本申请提供的一种内套圈平面度测量仪采用如下的技术方案:
一种内套圈平面度测量仪,包括底座、定位板、立柱、测量架、测量仪表、杠杆架、第一弹簧和转轴,所述底座远离所述立柱的端部转动连接有支撑柱,所述支撑柱远离所述底座的端部可拆式固定有用于固定内套圈的三爪卡盘,所述支撑柱的外周壁固定套设有圆环,且所述圆环的边缘处开设有多个固定槽,所述底座滑移设置有与所述固定槽卡接适配的固定块,所述测量架与所述底座之间设置有用于驱使所述固定块滑移的驱动机构。
通过采用上述技术方案,在对内套圈进行平面度测量时,先将三爪卡盘将内套圈固定于支撑柱上,若杠杆架的测头接触到内套圈的不平整处,杠杆架绕转轴摆动,同时驱动机构带动固定块滑移于底座,直至固定块进入固定槽并抵接于固定槽的内壁,即可限制支撑柱以及内套圈的转动,且内套圈与杠杆架的测头接触处即为不平整区域,以此实现便于定位内套圈不平整区域的效果,可以协助生产人员修整内圈套,有利于提升成品轴承的质量。
可选的,所述固定块的侧壁固定有滑块,所述底座开设有与所述滑块滑移适配的滑槽,且所述底座于所述滑槽内固定有导向杆,所述滑块套设于所述导向杆上。
通过采用上述技术方案,滑块沿滑槽的长度方向滑移,有利于限定固定块的运动方向,且使固定块稳定地滑移与底座上,即可稳定地限制支撑柱的转动。
可选的,所述驱动机构包括固定于所述底座上的感应器、固定于所述底座上的控制器、固定于所述底座上的电磁铁和用于驱使所述固定块进入所述固定槽的弹性件,所述感应器用于感应所述杠杆架的转动,所述控制器分别与所述感应器和所述电磁铁电连接,所述电磁铁与所述固定块磁性相吸。
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