[发明专利]一种实现卷积计算的焦平面探测器读出电路有效

专利信息
申请号: 202110607345.3 申请日: 2021-06-01
公开(公告)号: CN113489925B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 范广宇 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H04N5/369 分类号: H04N5/369;H01L27/146
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 实现 卷积 计算 平面 探测器 读出 电路
【权利要求书】:

1.一种实现卷积计算的焦平面探测器读出电路,规模为a行b列,a0,b0;总像素数为a×b,Dij为第i行第j列的光敏元,1≤i≤a;1≤j≤b,Cij为其积分电容,Rij为其与和差电路相连的输入电阻,Dlm为第l行第m列的光敏元1≤l≤a;1≤m≤b;Clm为其积分电容,Rlm为其与和差电路相连的输入电阻;其特征在于:

通过读出电路的积分电容并结合增加和差电路实现图像的卷积运算。根据所需实现算法确定第一层卷积层的卷积核规模为n×n,n0;设kxy、kpq为卷积核的两个权值,1≤x,y,p,q≤n,其中kxy为正值,在卷积运算时与Dij的信号相对应,kpq为负值,在卷积运算时与Dlm的信号相对应;光敏芯片通过倒焊与读出电路实现电连接,光敏芯片中光敏元与读出电路中积分电容一一相连,在传统读出电路中所有积分电容设计为统一的电容值,将光敏芯片中光敏元Dij与读出电路中积分电容Cij相连经输入电阻Rij与和差电路正极相连接,光敏芯片中光敏元Dlm与读出电路中积分电容Clm相连经输入电阻Rlm与和差电路负极相连接,其中Cij与Rij的值由卷积核kxy确定,Cij×Rij与kxy成反比,Clm与Rlm的值由卷积核kpq确定,Clm×Rlm与kpq成反比,当卷积核权值k为0时,积分电容不与和差电路输入相连,在给定积分时间内信号电荷注入积分电容并产生电压,电压信号输入和差电路产生输出信号,据此设计的和差电路输出即为图像信号与卷积核的乘加计算。

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