[发明专利]一种压力传感器调试系统及调试方法

说明书

本发明实施例公开了一种压力传感器的调试方法，包括：对多个待测调理电路板分别进行零点和幅值调试，得出多个调理电路板对应的第一零点补偿电阻和第一幅值补偿电阻；将对应的第一零点补偿电阻和第一幅值补偿电阻分别连接至多个调理电路板的电路中，测得多个待测调理电路板分别在不同温度及不同输入电压下的输出电压，将测得的输出电压值存储至数据库中；测量多个待测芯体分别在不同温度及不同的压力输入下的输出电压，将测得的输出电压值存储至数据库中；根据同一温度测量下多个调理电路板的输出电压值及多个芯体的输出电压值，将对应的第一待测调理电路板和第一待测芯体进行组合，使得组合成的第一压力传感器的输出电压值在预定范围内。

技术领域

本发明实施例涉及传感器修正领域，具体涉及一种压力传感器调试系统及调试方法。

背景技术

国内传感器厂家在标定压力传感器的时候将芯体与调理电路板随机连在一起，调理电路板上调零、调幅补偿电阻分别连接至电阻箱，采用人工依次调试各个产品。先将压力调至零点压力，观测传感器的输出值，然后通过人工调整连接零点电阻的电阻箱的阻值，观测数据，反复调整，直到传感器输出符合要求，然后将压力加至满量程，去调整连接幅值电阻的电阻箱阻值，观测数据，反复调整，直到传感器输出符合要求，然后再次回到零点，通常零点会因为幅值电阻的改变产生变化，还需要继续调整零点阻值，然后再去调整幅值阻值，如此反复，直到零点和幅值都符合要求。传统的压力传感器调试效率低，不适合于批量产品，采用人工进行调试，难免会带来误差，而且由于随机对芯体和调理电路板进行组合调试，调试过程中会出现因为芯体或调理电路板本身不合格、芯体或调理电路板高低温偏差超出误差允许范围从而导致传感器调试失败，极大的影响生产效率和产品合格率。

发明内容

为此，本发明实施例提供一种压力传感器调试系统及调试方法，以解决现有技术中调试方法的调试效率低，不适合于批量产品，误差大，而且由于随机对芯体和调理电路板进行组合调试，调试过程中会出现因为芯体或调理电路板本身不合格、芯体或调理电路板高低温偏差超出误差允许范围从而导致传感器调试失败的问题。

为了实现上述目的，本发明的实施方式提供如下技术方案：

在本发明的实施方式的一个方面中，提供了一种压力传感器的调试方法，所述压力传感器包括芯体和调理电路板，所述调试方法包括：步骤1：对多个待测调理电路板分别进行零点和幅值调试，得出所述多个调理电路板对应的第一零点补偿电阻和第一幅值补偿电阻；步骤2：将对应的所述第一零点补偿电阻和所述第一幅值补偿电阻分别连接至所述多个调理电路板的电路中，测得所述多个待测调理电路板分别在不同温度及不同输入电压下的输出电压，将测得的所述多个调理电路板的输出电压值存储至数据库中；步骤3：测量多个待测芯体分别在不同温度及不同的压力输入下的输出电压，将测得的所述多个芯体的输出电压值存储至数据库中；步骤4：根据所述数据库中，同一温度测量下所述多个调理电路板的输出电压值及所述多个芯体的输出电压值，将对应的第一待测调理电路板和第一待测芯体进行组合，使得组合成的第一压力传感器的输出电压值在预定范围内。

进一步地，步骤2中测得所述多个待测调理电路板分别在不同温度及不同输入电压下的输出电压，具体为：分别采集所述多个调理电路板在第一温度、第二温度、第三温度三个温度下n个输入电压下的输出电压；其中，n为正整数，所述第一温度小于所述第二温度，大于所述第三温度。

进一步地，步骤3中测量多个待测芯体分别在不同温度及不同的压力输入下的输出电压，具体为：分别采集所述多个芯体在所述第一温度、所述第二温度、所述第三温度三个温度下m个输入压力下的输出电压；其中，m为正整数。

进一步地，所述步骤4还包括：对于所述多个待测芯体和所述多个待测调理电路中未匹配的数据存入所述数据库中，待下一批产品数据采集好后可以再次进行匹配。

进一步地，n≥6，m≥6，n＝m。