[发明专利]一种探测装置及方法

权利要求书

1.一种探测装置，其特征在于包括：

光源模块，用于向待测物体发射探测光；

感光模块，接收发射光对所述像素进行处理；

处理模块，可对所反射光进行处理以获得待测物体的距离；

控制模块，用于控制光源模块和接收模块；

所述控制模块控制所述光源模块以第一功率及第一曝光时长发射探测光；

所述控制模块控制所述光源模块以第二功率及第一曝光时长发射探测光。

2.如权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述控制模块控制所述光源模块以第一功率及第二曝光时长发射探测光；

所述控制模块控制所述光源模块以第二功率及第二曝光时长发射探测光。

3.如权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述控制模块控制所述光源模块以第一功率及第三曝光时长发射探测光；

所述控制模块控制所述光源模块以第二功率及第三曝光时长发射探测光。

4.如权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述第一功率大于所述第二功率。

5.如权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述控制模块控制所述光源模块不发射探测光；所述不发射探测光的时长分别持续时长为第一曝光时长，第二曝光时长，第三曝光时长。

6.如权利要求5所述的探测装置，其特征在于，所述第一曝光时长大于所述第二曝光时长，所述第二曝光时长大于所述第三曝光时长。

7.如权利要求5所述的探测装置，其特征在于，所述不发射探测光时长分别位于所述发射探测光时长之后，并和对应的发射探测光的曝光时长相同。

8.一种使用权利要求1所述探测装置的探测方法，其特征在于包括：控制模块控制光源模块以第一曝光时长、第一发射功率向待测物体发射探测光；所述控制模块还可控制所述光源模块以第一曝光时长及第二发射功率向待测物体发射探测光。

9.如权利要求8所述的探测方法，其特征在于，所述控制模块控制所述光源模块以第二曝光时长及第一发射功率向待测物体发射探测光；所述控制模块还可控制所述光源模块以第二曝光时长及第二发射功率向待测物体发射探测光。

10.如权利要求8所述的探测方法，其特征在于，所述控制模块控制所述光源模块以第三曝光时长及第一发射功率向待测物体发射探测光；所述控制模块还可控制所述光源模块以第三曝光时长及第二发射功率向待测物体发射探测光。