[发明专利]一种连续铸造结晶器内腔金属温度的测量方法及系统有效
申请号: | 202110602955.4 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113361158B | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 杨斌;黄晓东;黄学雨;宋小军;谢小云;魏渺 | 申请(专利权)人: | 江西理工大学;江西先进铜产业研究院 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;B22D2/00;B22D11/00;G06F119/08 |
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地址: | 341000 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 连续 铸造 结晶器 金属 温度 测量方法 系统 | ||
1.一种连续铸造结晶器内腔金属温度的测量方法,其特征在于,所述方法,包括:
获取结晶器入口当前温度和结晶器出口当前温度;
根据所述结晶器入口当前温度和所述结晶器出口当前温度,利用回归方程组计算结晶器内腔金属的当前温度;
在根据所述结晶器入口当前温度和所述结晶器出口当前温度,利用回归方程组计算结晶器内腔金属的当前温度之前,还包括:
建立回归方程组式中,T1为液态区当前温度,T2为凝固区当前温度,T3为固态区当前温度,T为结晶器冷却水套当前温度,Y1为结晶器入口当前温度,Y2为结晶器出口当前温度,a1、a2、a3、b1、b2、b3、c1、c2、c3、d1、d2、d3均为回归方程组的系数;
采用有限元法对所述结晶器内的温度分布进行建模,得到结晶器温度分布模型;
将所述结晶器划分为多个网格;
获取结晶器入口历史温度、结晶器出口历史温度和结晶器冷却水套历史温度;
将所述结晶器入口历史温度、所述结晶器出口历史温度和所述结晶器冷却水套历史温度作为边界条件,对所述结晶器温度分布模型进行求解,得到结晶器各网格的内腔金属历史温度;
根据金属的物理性质和所述结晶器各网格的内腔金属历史温度,将所述结晶器划分为液态区、凝固区和固态区;
将所述液态区内各网格的内腔金属历史温度的中位值作为液态区历史温度,将所述凝固区内各网格的内腔金属历史温度的中位值作为凝固区历史温度,将所述固态区内各网格的内腔金属历史温度的中位值作为固态区历史温度;
根据所述结晶器入口历史温度、所述结晶器出口历史温度、所述结晶器冷却水套历史温度、所述液态区历史温度、所述凝固区历史温度和所述固态区历史温度,确定所述回归方程组的系数。
2.根据权利要求1所述的连续铸造结晶器内腔金属温度的测量方法,其特征在于,所述根据所述结晶器入口当前温度和所述结晶器出口当前温度,利用回归方程组计算结晶器内腔金属的当前温度,具体包括:
获取结晶器冷却水套当前温度;
根据所述结晶器入口当前温度、所述结晶器出口当前温度和所述结晶器冷却水套当前温度,利用回归方程组计算所述结晶器内腔金属的当前温度。
3.根据权利要求1所述的连续铸造结晶器内腔金属温度的测量方法,其特征在于,在所述获取结晶器入口历史温度、结晶器出口历史温度和结晶器冷却水套历史温度之后,还包括:
建立温度回归方程T=k1X1+k2X2+k3;式中,T为结晶器冷却水套当前温度,X1为冷却水套入口当前温度,X2为冷却水套出口当前温度,k1、k2、k3均为温度回归方程的系数;
获取冷却水套入口历史温度和冷却水套出口历史温度;
根据所述结晶器冷却水套历史温度、所述冷却水套入口历史温度和所述冷却水套出口历史温度,确定所述温度回归方程的系数。
4.根据权利要求3所述的连续铸造结晶器内腔金属温度的测量方法,其特征在于,所述根据所述结晶器入口当前温度和所述结晶器出口当前温度,利用回归方程组计算结晶器内腔金属的当前温度,具体包括:
获取冷却水套入口当前温度和冷却水套出口当前温度;
根据所述结晶器入口当前温度、所述结晶器出口当前温度、所述冷却水套入口当前温度和所述冷却水套出口当前温度,利用温度回归方程和回归方程组计算所述结晶器内腔金属的当前温度。
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