[发明专利]一种射频同轴连接器测试方法

权利要求书

1.一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：先将射频同轴连接器的测试装置选取平整且干燥的地方进行放置，利用支撑架进行调整支撑；

步骤2：再通过PLC控制器，调整合适的参数，使得反磁场干扰器开始运转，降低周围的电磁影响；

步骤3：将需要测试的射频同轴连接器，分别套在多个连接套上，同时第二电源器驱动磁吸器运转，使得射频同轴连接器吸附在多个连接套上；

步骤4：随着测试不同的射频同轴连接器，第一电源器驱动第一电动伸缩器，调整合适的距离，使得活动检测板与固定检测板逐渐贴合；

步骤5：同时多个连接套由第二滑移器带动移动，使得多个连接套分别对应激光识别器、静电测试器、电阻测试器、加热测试器，进行连接测试，利用连接套内部的信号反馈器，进行测试数据的反馈，再通过第一电动伸缩器带动活动检测板与固定检测板开合，多个连接套由第二滑移器带动再次移动，分别多次测试，测试出问题时感应灯亮起，同时反馈数据到无线数据传输器；

步骤6：利用无线数据传输器感应无线分控感应阀门控制开合多个阀门，使得连接套带动好的射频同轴连接器与坏的射频同轴连接器，分别投入不同的分隔收料箱中；

其中，射频同轴连接器的测试装置包括减震基座（1），所述减震基座（1）的上方安装有连接控制端（2），所述连接控制端（2）的外侧设置有两个固定检测板（4），所述固定检测板（4）的外侧安装有两个活动检测板（3），所述活动检测板（3）的后端设置有分隔收料箱（33），所述固定检测板（4）的表面安装有多位测试端（14），所述活动检测板（3）的内侧设置有连接套（9）。

2.根据权利要求1所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述减震基座（1）的下端安装有支撑架（6），且支撑架（6）与减震基座（1）的下端一体成型设置，所述减震基座（1）的上端设置有滑板（7），且滑板（7）与减震基座（1）的上端焊接连接，所述减震基座（1）的内部安装有减震弹簧（22）。

3.根据权利要求1所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述活动检测板（3）的外侧安装有防护套（15），所述活动检测板（3）的上端设置有感应灯（10），且感应灯（10）与活动检测板（3）的上端一体成型设置，所述活动检测板（3）的表面安装有反磁场干扰器（5），所述活动检测板（3）的内壁设置有滑槽（8），且滑槽（8）与活动检测板（3）的内壁一体成型设置，所述活动检测板（3）的底端安装有第一滑移器（21），且第一滑移器（21）与活动检测板（3）的底端焊接连接。

4.根据权利要求3所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述防护套（15）的内部安装有第二电源器（20）。

5.根据权利要求1所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述固定检测板（4）的上方安装有第一电动伸缩器（11），所述第一电动伸缩器（11）的外侧设置有减震橡胶层（17），且减震橡胶层（17）与第一电动伸缩器（11）的外侧一体成型设置。

6.根据权利要求5所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述第一电源器（19）的一侧安装有双通道数据处理器（18），且双通道数据处理器（18）通过电线线路（32）与第一电源器（19）电性连接。

7.根据权利要求1所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述连接控制端（2）的上方设置有PLC控制器（13），所述PLC控制器（13）的一端安装有无线数据传输器（24），且无线数据传输器（24）与PLC控制器（13）的一端焊接连接。

8.根据权利要求1所述的一种射频同轴连接器测试方法，其特征在于：所述多位测试端（14）的中间安装有激光识别器（28），所述激光识别器（28）的一侧设置有静电测试器（29），所述静电测试器（29）的一侧安装有电阻测试器（30），所述电阻测试器（30）的一侧设置有加热测试器（31）。