[发明专利]图像拼接方法、装置、存储介质及电子装置有效
申请号: | 202110602736.6 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113344782B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 柏海生;周章伟;李乾坤 | 申请(专利权)人: | 浙江大华技术股份有限公司 |
主分类号: | G06V10/25 | 分类号: | G06V10/25;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵静 |
地址: | 310051 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 拼接 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
1.一种图像拼接方法,其特征在于,包括:
获取摄像设备对目标对象的不同区域进行拍摄所得到的多个目标图像,其中,所述目标图像中包括多个子对象,所述子对象为所述目标对象中包括的对象,所述子对象的形状为矩形;
使用目标检测模型对每个所述目标图像进行分析,以确定每个所述目标图像中包括的每个子对象的目标顶点坐标以及目标尺寸参数,其中,所述目标检测模型为使用多组目标训练数据通过机器学习训练出的,所述多组目标训练数据中的每组数据包括:图像和图像中包括的每个子对象的顶点坐标以及尺寸参数;
基于所述目标顶点坐标以及所述目标尺寸参数确定每个所述目标图像的目标拼缝;
基于所述目标拼缝拼接多个所述目标图像,以得到所述目标对象的目标全景图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述目标顶点坐标以及所述目标尺寸参数确定每个所述目标图像的目标拼缝包括:
针对每个所述目标图像,执行以下操作,确定每个所述目标图像的目标拼缝:
获取所述目标图像的检测区域的区域顶点坐标;
基于所述目标顶点坐标、所述目标尺寸参数以及所述区域顶点坐标确定多个所述子对象中包括的目标子对象;
基于所述目标子对象的目标顶点坐标以及目标尺寸参数确定所述目标图像的所述目标拼缝。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述目标顶点坐标、所述目标尺寸参数以及所述区域顶点坐标确定多个所述子对象中包括的目标子对象包括:
基于所述目标顶点坐标、所述目标尺寸参数确定每个所述子对象的对象顶点坐标,其中,所述对象顶点坐标中包括所述子对象所在区域的各个顶点的坐标;
基于所述对象顶点坐标以及所述区域顶点坐标确定距离所述区域顶点坐标中包括的每个顶点坐标最近的第一子对象;
将所述第一子对象确定为所述目标子对象。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,基于所述对象顶点坐标以及所述区域顶点坐标确定距离所述区域顶点坐标中包括的每个顶点坐标最近的第一子对象包括:
对所述区域顶点坐标中包括的每个顶点的第一坐标均执行以下操作,以确定距离所述区域顶点坐标中包括的每个顶点坐标最近的第一子对象:确定所述对象顶点坐标中包括的与所述第一坐标的方位相同的第二坐标;确定所述第二坐标中的横坐标与所述第一坐标中的横坐标的差值的第一绝对值,以及所述第二坐标中的纵坐标与所述第一坐标中的纵坐标的差值的第二绝对值;确定所述第一绝对值与所述第二绝对值的绝对值和;
确定所述绝对值和中包括的最小绝对值和对应的第三坐标;
将所述第三坐标对应的子对象确定为所述第一子对象。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述目标子对象的目标顶点坐标以及目标尺寸参数确定所述目标拼缝包括:
基于所述目标顶点坐标中包括的所述目标子对象中的第二子对象的纵坐标搜索所述目标图像的第一直线,其中,所述第二子对象为位于第一边缘区域中的子对象;
基于所述目标顶点坐标中包括的所述目标子对象中的第三子对象的纵坐标,以及所述目标尺寸参数中包括的所述第三子对象的尺寸参数搜索所述目标图像的第二直线,其中,所述第三子对象为位于第二边缘区域中的子对象;
基于所述目标顶点坐标中包括的所述目标子对象中的第四子对象的横坐标,以及所述目标尺寸参数中包括的所述第四子对象的尺寸参数搜索所述目标图像的第三直线,其中,所述第四子对象为位于第三边缘区域中的子对象,所述第三边缘区域包括所述第一边缘区域和所述第二边缘区域;
基于所述目标顶点坐标中包括的所述子对象中的第五子对象的横坐标,以及所述目标尺寸参数中包括的所述第五子对象的尺寸参数搜索所述目标图像的第四直线,其中,所述第五子对象为位于目标区域的子对象,所述目标区域为位于所述检测区域中的与所述第三边缘区域相邻的区域;
基于所述第一直线、第二直线、第三直线以及所述第四直线确定所述目标拼缝。
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