[发明专利]生长铝镓氮的方法在审
申请号: | 202110601721.8 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113345797A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 赵德刚;杨静;王柏斌;梁锋;陈平;刘宗顺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C23C16/04;C23C16/30 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 生长 铝镓氮 方法 | ||
本发明公开了一种生长铝镓氮的方法,包括:在衬底上生长成核层;在生长成核层后的衬底上生长铝镓氮;其中,衬底为图形化蓝宝石衬底,成核层在图形化蓝宝石衬底的窗口区域进行三维生长,成核层未覆盖衬底的非窗口区域,铝镓氮在图形化蓝宝石衬底的非窗口区域以及成核层区域进行生长;本申请通过在图形化的蓝宝石衬底上低温生长成核层,控制成核层的生长区域,再生长铝镓氮,可以一次性生长较厚的铝镓氮而不出现裂纹,相较于现有技术来说,工序简单,生产效率高,同时,成本较低。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种生长铝镓氮的方法,可以在衬底一次外延生长铝镓氮的方法。
背景技术
铝镓氮(AlGaN)是直接带隙材料,具有禁带宽度宽的优点,在光电子领域具有重要应用,尤其在紫外波段中,是激光器、发光二极管和探测器中的关键材料。
AlGaN的Al组分可以调节,这使器件的结构设计具有更大的灵活度,但同时Al组分的变化也会导致AlGaN晶格常数的相应变化,无论是氮化镓(GaN)还是氮化铝(AlN)的衬底,都难以与AlGaN实现完美的晶格匹配,这给AlGaN的材料生长带来了困难。AlGaN与衬底之间存在较大的应力,当AlGaN生长厚度超过1μm时极易产生裂纹。
对于富Ga的AlGaN的生长,现在常采用采用GaN图形衬底或采用二次外延的方式来缓解应力、避免裂纹的出现,但是这种方法存在着以下缺陷:
(1)GaN图形衬底价格昂贵,生产成本较高;
(2)二次外延的工艺繁琐,生产效率较低,成本高,成品率低。
发明内容
为了解决上述技术问题,防止AlGaN在外延的时候出现裂痕,本发明公开了一种方法,包括:
在衬底上生长成核层;
在生长所述成核层后的衬底上生长铝镓氮;
其中,所述衬底为图形化蓝宝石衬底,所述成核层在所述图形化蓝宝石衬底的窗口区域进行三维生长,所述成核层未覆盖所述衬底的非窗口区域,所述铝镓氮在所述图形化蓝宝石衬底的非窗口区域以及所述成核层区域进行生长。
根据本发明的一些实施例,所述成核层和所述铝镓氮均采用有有机金属化合物气相外延法进行生长。
根据本发明的一些实施例,所述在衬底上生长成核层包括:将衬底放置在反应室内,温度控制在450~600℃生长所述成核层。
根据本发明的一些实施例,所述成核层的生长厚度范围为0.1~0.4μm。
根据本发明的一些实施例,所述在生长所述成核层后的衬底上生长铝镓氮:将生长后所述成核层的衬底放置在反应室内,温度控制在1000~1100℃。
根据本发明的一些实施例,所述在生长所述成核层后的衬底上生长铝镓氮:将生长后所述成核层的衬底放置在反应室内,反应室内压力范围为30–100Torr。
根据本发明的一些实施例,所述铝镓氮的生长厚度大于1μm。
根据本发明的一些实施例,所述成核层包括以下任一:GaN、AlGaN或AlN。
根据本发明的一些实施例,所述在衬底上生长成核层之前还包括:对所述衬底表面进行清理,将所述衬底放置在反应室中,温度控制在1050℃,通入H2对衬底表面进行清洁处理。
根据本发明的一些实施例,通过采用干法刻蚀以及光刻工艺制备获得所述图形化蓝宝石衬底。
通过上述技术方案,本发明通过在图形化的蓝宝石衬底上低温生长成核层,控制成核层的生长区域,再生长铝镓氮,可以一次性生长较厚的铝镓氮而不出现裂纹,相较于现有技术来说,工序简单,生产效率高,同时,成本较低。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110601721.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造