[发明专利]异常像素的滤除方法及设备在审
申请号: | 202110596678.0 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113379812A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 尹睿;徐敏;张卫 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路制造创新中心有限公司 |
主分类号: | G06T7/50 | 分类号: | G06T7/50;G06T7/80;G06T5/00 |
代理公司: | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人: | 黄海霞 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 异常 像素 方法 设备 | ||
1.一种异常像素的滤除方法,其特征在于,包括步骤:
S1:通过第一相机获取第一深度图像,通过第二相机获取第二深度图像;
S2:处理所述第一深度图像得到第一点云图,处理所述第二深度图像得到第二点云图;
S3:对所述第一点云图中像素进行索引,得到索引结果;
S4:依据所述索引结果计算像素的匹配度指标;
S5:设置滤除阈值,当判断所述像素的匹配度指标大于或等于所述滤除阈值时,滤除所述像素。
2.如权利要求1所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述步骤S1中,所述第一相机为TOF相机,所述第二相机为TOF相机。
3.如权利要求2所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,将所述第一相机和所述第二相机平行放置于同一水平面上,通过所述第一相机和所述第二相机拍摄同一目标以获取所述第一深度图像和所述第二深度图像。
4.如权利要求1所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述步骤S2中,所述处理第一深度图像得到第一点云图,处理第二深度图像得到第二点云图包括步骤:
S20:标定相机参数,所述相机参数包括第一相机内参数和第二相机内参数;
S21:依据所述第一深度图像和所述第一相机内参数计算得到所述第一点云图,依据所述第二深度图像和所述第二相机内参数计算得到中间点云图。
5.如权利要求4所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,还包括步骤S22,所述相机参数还包括第二相机外参数,所述步骤S22包括,依据所述第二相机的外参数,并以所述第一点云图的中心为坐标系中心,对所述中间点云图进行平移和旋转,得到所述第二点云图。
6.如权利要求1所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述步骤S3中,所述对第一点云图中的像素进行索引包括,计算像素位置列差,依据所述像素位置列差查找所述第一点云图中的像素在所述第二点云图中的对应像素。
7.如权利要求6所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述计算像素位置列差的步骤包括:
S30:计算基线长度和像素深度值;
S31:将所述基线长度和相机焦距相乘后,除以所述像素深度值,得到所述像素位置列差。
8.如权利要求7所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述基线长度为所述第一相机的镜头和所述第二相机的镜头的中心间距。
9.如权利要求7所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述像素深度值为所述第一点云图的像素深度,所述第一点云图的像素深度与所述第二点云图的像素深度一致。
10.如权利要求1所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述步骤S4中,所述依据像素位置列差计算像素的匹配度指标包括:
S40:于所述第一点云图中划定第一窗口,并于所述第二点云图中划定所述第一窗口对应的第二窗口;
S41:分别计算所述第一窗口内所有的像素的点云值和所述第二窗口内所有的像素的点云值;
S42:将所述第一窗口内像素的点云值减去所述第二窗口内所述第一窗口内像素对应的像素的点云值,得到点云差,计算所述点云差的绝对值;
S43:对所述点云差的绝对值进行求和,得到所述像素的匹配度指标。
11.如权利要求1所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,所述步骤S5中,当判断所述像素的匹配度指标小于所述滤除阈值时,保留所述像素。
12.如权利要求1所述的异常像素的滤除方法,其特征在于,还包括步骤S6:重复所述步骤S3至所述步骤S5,直至所述第一点云图中所有像素均被索引。
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