[发明专利]一种链路扫描分析系统及方法

说明书

本发明公开了一种链路扫描分析系统及方法，该系统包括有：E1接入模块、光接入模块、交换模块、采集模块、分析模块及控制模块，其中，控制模块管理采集资源，管理待扫描识别的E1，记录已识别链路的详细信息，控制扫描识别分析链路的全过程；分析模块：接收采集模块的数据，并根据控制模块的指令识别分析来自采集模块的数据是否符合HDLC链路规范或者中国一号信令规范。该系统及方法能够扫描识别符合HDLC规范的链路和符合中国一号信令规范的链路，相比已有的技术方案仅能扫描识别HDLC链路具有更好的通用性。

技术领域

本发明涉及链路扫描的技术领域，尤其是涉及用于E1承载的链路扫描分析的方法和系统。

背景技术

E1承载的链路类型有三类：一类是将整个2M用作为一条链路，如DDN2M；一类是将2M用作若干个64k及其组合，如128K，256K(N1-30x64K)等，这就是CE1；还有一类低速链路是使用每个时隙中的比特位组合成8K、16K、32K的链路。

目前，针对上述描述的E1承载的34种类型链路进行扫描的方法，大多数存在着链路识别精确度不高，检测效率低和链路动态变化的自适应性差的缺点。

为此，申请人提出了专利申请201310118521.2公开了一种链路自动扫描的方法及系统，该发明解决了上述的问题。该发明所用判断是否有效链路的方法是用HDLC控制器采集一段时间的数据，然后根据采集到的正确消息数量占总消息数量的百分比是否大于阈值(99％)，若大于99％则判断HDLC控制所采集的链路为有效链路。这种判断方法的缺点是：

1.一个HDLC控制器一次只能判断一种速率的链路(速率：2M，Nx64K其中1N31，64K，32K，16K，8K，每个E1可能同时存在34种速率链路)；

2.每次判断一种速率链路需要至少1秒时间，如果E1数量多，假设仅有248路HDLC控制器，那么完成一轮扫描的时长＝(E1数量*34)。具体到一个SMT-1155M光纤，扫描链路的总时长为63*34＝2142秒，用时近6分钟。

3.分配用于信令链路扫描的HDLC控制器数量多，如同时扫描一个E1中31个时隙的8K子链路就需要248个HDLC控制器。

造成以上问题和缺点的原因一是该发明是从数据链路层(ISO/OSI七层网络模型)判断是否有效链路，判断统计的对象是数据帧，因此需要针对不同的链路进行分类，导致其通用性差。其次，该发明每做一次链路是否有效的判断都需要采集1秒的数据，因此导致数据的采集和判断效率不高。

发明内容

为克服上述情况不足，本发明的目的是提供一种链路扫描分析系统及方法，该系统及方法能够扫描识别符合HDLC规范的链路和符合中国一号信令规范的链路，相比已有的技术方案仅能扫描识别HDLC链路具有更好的通用性。

本发明的另一个目的是提供一种链路扫描分析系统及方法，该系统及方法采集一次数据就能够准确识别出一个E1中所承载的不同速率链路类型，采集数据具有更高的效率和更快的识别速度，同时所需的HDLC采集通道资源更少。同时，本发明还能识别中国一号信令链路。

为实现上述目的，本发明是这样实现的：

一种链路扫描分析系统，包括有：

E1接入模块：该模块将E1信号成帧处理后输送至交换模块；

光接入模块：该模块将光信号成帧后输送至交换模块；

交换模块：根据控制模块的指令，将E1接入模块、光接入模块的E1信号、光信号交换至采集模块；

控制模块：管理采集资源，管理待扫描识别的E1，记录已识别链路的详细信息，控制扫描识别分析链路的全过程；