[发明专利]一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置

权利要求书

1.一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，包括：

获取测量光谱信号，采用s-g算法对测量光谱信号进行滤波处理，得到第一滤波光谱信号；

基于k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果，通过s-g算法得到第二滤波光谱信号；

从第二滤波光谱信号中选取一段不包含有效光谱信息的光谱带外的光谱数据，并采用最小二乘拟合算法进行线性拟合，得到拟合光谱信号，然后得到基于拟合光谱信号的基线值；

若基线值达到布里渊光谱仪的系统噪声水平，则此时对应的自相关阶次k为最优自相关次数，基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分；否则，则重复得到第一滤波光谱信号、得到第二滤波光谱信号和得到基于拟合光谱信号的基线值的过程。

2.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述获取测量光谱信号之后，包括将dBm坐标系的测量光谱信号转换为mW坐标系的测量光谱信号。

3.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述得到有效光谱成分之后，包括：将mW坐标系的有效光谱成分转换为dBm坐标系的有效光谱成分。

4.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述采用s-g算法对测量光谱信号进行滤波处理的过程，通过测量测量光谱信号与s-g算法多项式系数做卷积实现。

5.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果的过程包括：第一滤波光谱信号的k阶自相关，通过每个采样点进行k次方处理实现，得到自相关处理的光谱信号。

6.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分的表达式为：

Sp_a(n)＝(Sp_f(n))^k (1)

式中，Sp_a(n)为经自相关得到的有效光谱成分；Sp_f(n)为经s-g算法滤波光谱信号的第n个点；k为自相关阶次，对于同一测试条件下，k为唯一确定值。

7.根据权利要求1所述的布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法，其特征在于，所述基线值获得的过程为：

V_base＝Average(S_papy) (2)

式中，S_papy为拟合光谱信号，Average表示平均处理。

8.一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除装置，其特征在于，包括：

第一滤波光谱信号获取模块，其被配置为：获取测量光谱信号，采用s-g算法对测量光谱信号进行滤波处理，得到第一滤波光谱信号；

第二滤波光谱信号获取模块，其被配置为：基于k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果，通过s-g算法得到第二滤波光谱信号；

基线值获取模块，其被配置为：从第二滤波光谱信号中选取一段不包含有效光谱信息的光谱带外的光谱数据，并采用最小二乘拟合算法进行线性拟合，得到拟合光谱信号，然后得到基于拟合光谱信号的基线值；

有效光谱成分获取模块，其被配置为：若基线值达到布里渊光谱仪的系统噪声水平，则此时对应的自相关阶次k为最优自相关次数，基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分；否则，则重复得到第一滤波光谱信号、得到第二滤波光谱信号和得到基于拟合光谱信号的基线值的过程。