[发明专利]一种晶体硅片的制绒方法及硅片有效
申请号: | 202110592071.5 | 申请日: | 2021-05-28 |
公开(公告)号: | CN113299796B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 杨二存;赵小平;时宝;逯承承;庞瑞卿;刘海泉;陈刚 | 申请(专利权)人: | 天津爱旭太阳能科技有限公司;浙江爱旭太阳能科技有限公司;广东爱旭科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫;李素兰 |
地址: | 300403 天津市北辰区天津北辰*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶体 硅片 方法 | ||
1.一种晶体硅片的制绒方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)提供待处理硅片;所述待处理硅片包括正面和背面;
(2)将所述待处理硅片的背面浸入保护液,以在所述待处理硅片的背面形成保护层;
(3)将步骤(2)得到的待处理硅片整体浸入碱性溶液中,以去除待处理硅片正面的机械损伤层;
(4)将步骤(3)得到的待处理硅片整体浸入制绒液中,制绒后得到制绒硅片;
(5)将制绒硅片整体浸入含有HF的酸洗液中,以去除制绒硅片背面的保护层;
其中,所述保护液的制备方法为:
(1)将20~30份保护剂加入100~200份含有氟硅酸的A溶液中,在20~40℃下搅拌0.5~10h后过滤,得到B溶液;
(2)在100~200份的B溶液中加入30~40份H3BO3,反应得到保护液;
其中,所述保护剂选用硅胶、硅酸钠、硅酸钾中的一种或多种;
所述保护液中含有白炭黑,所述碱性溶液和所述制绒液不腐蚀所述保护层。
2.如权利要求1所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,所述A溶液由SiF4与水反应而得;或
由SiF4、HF与水反应而得;或
由SiF4、CaF2、H2SO4和水反应而得;或
由氟硅酸溶于水而得。
3.如权利要求2所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,所述A溶液中,氟硅酸的浓度为30~35wt%;
所述保护液中白炭黑的浓度为0.1~0.8mmol/L。
4.如权利要求1所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,步骤(2)包括:
(2.1)将待处理硅片浸入第一清洗液中清洗,所述第一清洗液为氢氟酸、盐酸、硝酸、硫酸、双氧水中的一种或多种;
(2.2)将第一清洗液清洗后的待处理硅片的背面浸入保护液,在30~50℃下沉积2~20min,以在所述待处理硅片的背面形成保护层。
5.如权利要求1所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,步骤(3)中,所述碱性溶液为NaOH溶液或KOH溶液,其浓度为1~10wt%。
6.如权利要求1所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,步骤(4)包括:
(4.1)将步骤(3)得到的待处理硅片浸入第二清洗液中清洗,所述第二清洗液为NaOH溶液、KOH溶液中的一种或两种与双氧水的混合溶液;
(4.2)将第二清洗液清洗后的硅片用水清洗;
(4.3)将水清洗后的待处理硅片浸入制绒液中,以在所述待处理硅片的正面形成绒面,得到制绒硅片。
7.如权利要求1所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,所述制绒液为氢氧化钾或氢氧化钠、硅酸钠、异丙醇的混合溶液;
其中,氢氧化钾或氢氧化钠的浓度为1~3wt%,硅酸钠的浓度为0.1~1wt%,异丙醇的浓度为3~10vol%。
8.如权利要求1所述的晶体硅片的制绒方法,其特征在于,步骤(5)包括:
(5.1)将制绒硅片用水清洗;
(5.2)将水洗后的制绒硅片整体浸入第三清洗液中清洗;其中,第三清洗液为中含有HCl、HF、O3中的一种或多种;
(5.3)将第三清洗液清洗后的制绒硅片的整体浸入含有HF的酸洗液中,反应100~300s,以去除制绒硅片背面的保护层以及正面的SiO2层。
9.一种硅片,其特征在于,其由权利要求1~8任一项所述的晶体硅片的制绒方法进行制绒后得到。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的