[发明专利]一种铜薄膜的制备方法有效
申请号: | 202110584597.9 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113293416B | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 刘晓伟;杨宝朔;艾远 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | C25D3/38 | 分类号: | C25D3/38;C25D5/34 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 齐晨洁 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种铜薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1:对导电基底进行打磨抛光、清洗和干燥;
步骤S2:对导电基底进行改性处理,改性处理方式为:在氮气或氩气中,用氙灯以1~5J/cm2的能量密度以平行光方式照射,或在500~700℃下加热处理,改性处理时间为1~2h;
步骤S3:改性处理完成后,在铜盐电解液中,用电沉积方法在导电基底表面沉积得到铜薄膜。
2.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,所述导电基底尺寸选为:长1~5cm,宽1~5cm,厚1~5mm,材料选为铜、铂、金中的一种。
3.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤S3中,所述铜盐电解液中,铜离子浓度为0.1~0.5mol/L,促进剂浓度为0~1mol/L。
4.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,所述铜盐电解液中的铜盐为CuCl2、CuSO4或Cu(NO3)2的一种或几种。
5.根据权利要求3所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,所述促进剂为NaCl、KCl、Na2SO4、K2SO4中的一种或几种。
6.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤S3中,电沉积包括如下过程:
过程S3-1:以直径2~10mm的铜棒为阳极、所述导电基底为阴极,竖直插入铜盐电解液中,阳极与阴极的间距为1~5cm;
过程S3-2:以电压5~10V、电流密度0.1~0.5A/cm2进行电沉积,电解液温度30~50℃,沉积时间10~30min,电沉积完成后,在导电基底表面得到铜薄膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110584597.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。