[发明专利]一种铜薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110584597.9 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN113293416B 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 刘晓伟;杨宝朔;艾远 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: C25D3/38 分类号: C25D3/38;C25D5/34
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 齐晨洁
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种铜薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤S1:对导电基底进行打磨抛光、清洗和干燥;

步骤S2:对导电基底进行改性处理,改性处理方式为:在氮气或氩气中,用氙灯以1~5J/cm2的能量密度以平行光方式照射,或在500~700℃下加热处理,改性处理时间为1~2h;

步骤S3:改性处理完成后,在铜盐电解液中,用电沉积方法在导电基底表面沉积得到铜薄膜。

2.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,所述导电基底尺寸选为:长1~5cm,宽1~5cm,厚1~5mm,材料选为铜、铂、金中的一种。

3.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤S3中,所述铜盐电解液中,铜离子浓度为0.1~0.5mol/L,促进剂浓度为0~1mol/L。

4.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,所述铜盐电解液中的铜盐为CuCl2、CuSO4或Cu(NO3)2的一种或几种。

5.根据权利要求3所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,所述促进剂为NaCl、KCl、Na2SO4、K2SO4中的一种或几种。

6.根据权利要求1所述的铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤S3中,电沉积包括如下过程:

过程S3-1:以直径2~10mm的铜棒为阳极、所述导电基底为阴极,竖直插入铜盐电解液中,阳极与阴极的间距为1~5cm;

过程S3-2:以电压5~10V、电流密度0.1~0.5A/cm2进行电沉积,电解液温度30~50℃,沉积时间10~30min,电沉积完成后,在导电基底表面得到铜薄膜。

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