[发明专利]一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备

说明书

本发明公开了一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，用于清洁及研磨探针针头，降钝清洁设备包括清洁片、基台、毛刷组件，清洁片与毛刷组件安装在基台上，基台带有升降驱动。降钝清洁设备还包括细磨组件，细磨组件设置在基台一旁，细磨组件包括底壳、推杆、轮架、磨轮、轴承，底壳内壁表面上安装两根推杆，推杆另一端安装轮架，磨轮两端通过轴承安装到轮架上，推杆轴线、磨轮轴线、探针轴线位于同一平面内，推杆带有伸缩结构，磨轮在轮架上的旋转带有旋转阻尼结构。磨轮表面设置螺旋形的第一凸起和第二凸起，第一凸起和第二凸起的螺旋方向相反，第一凸起和第二凸起的连接位置位于探针锥面离针尖三分之一的长度内。

技术领域

本发明涉及电性检测用探针清理技术领域，具体为一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备。

背景技术

LED芯片在制造完毕后，需要进行电性检测来挑出，电性检测时，是将金属探针与芯片表面的电极部位进行接触通电，进行质量判断。主要过程有：设定环境、点测报警、清理、校正、补偿、重新回到异常点再次点测，结束。

其中，点测报警阶段，对不合格的点系统会报警，报警存在误差，一些误差导致不合格的原因：探针上面有金属碎屑，或者晶粒上面有碎屑，对探针点测有影响，检测出现误差；或者探针在芯片上面移动的时候，探针尖端会拉扯芯片上表面出现拉丝现象，导致晶粒上面的正负极两端被拉丝导通，这也会影响芯片光电性能的参数数据，探针使用多次后尖端会变钝，尖端位置精度受到影响，导致点测不到位；所以需要对探针进行清理，以及将拉丝或者芯片上面的碎屑清理掉，并且研磨探针尖端。

探针清理的方式现有技术主要是毛刷，使用毛刷刷走探针尖端的碎屑；清理过程完毕后系统自己会有校正确认过程，比如说系统检测到这个位置晶粒的一个参数是3.5V，但是正常数值在3.0V，那这个作为不合格物件需要被剔除，如果这个晶粒的参数在系统规定的误差范围内，那系统会有一个参数补偿的过程，把误差值调节到正常的规定数值3.0V，清理、校正和补偿后，探针会再次自动回到报警的地点对晶粒重新点测判断是否合格。

尽管探针清理过后会有校正补偿过程，但是，探针钝化不做处理，影响后续检测精度，而且，现有技术中，常常存在清理不彻底的情况，探针针尖上存在较大吸附力的碎屑，一般刷毛较难清理下来这样的碎屑。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，用于清洁及研磨探针针头，降钝清洁设备包括清洁片、基台和毛刷组件，清洁片与毛刷组件安装在基台上，基台带有升降驱动。运行一定周期后的探针针头钝化以及粘附碎屑脏物，首先将其从芯片工位转移出来，然后基台上升，让清洁片和探针头部接触，探针沿清洁片表面移动，粘附的脏物被简易清理，探针沿清洁片移动时，针头被粗略地研磨变尖，之后，将探针转移到毛刷组件上，探针尖端在毛刷内的前后左右移动让未被清洁片清理的碎屑留在毛刷内，完成清洁与降钝过程，使探针回到较好的工作状态。