[发明专利]一种测量空间基准孔深度的检测工具及检测方法在审

专利信息
申请号: 202110582525.0 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN113137902A 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 李鸿飞;尹本勇 申请(专利权)人: 桂林福达曲轴有限公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18
代理公司: 南宁深之意专利代理事务所(特殊普通合伙) 45123 代理人: 徐国华
地址: 541001 广西壮族自治*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 空间 基准 深度 检测工具 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种测量空间基准孔深度的检测工具,其特征在于:主要由检具体(2)、表座(3)、百分表(4)和校对规(5)组成;

所述的检具体(2)的形状为倒立的V形,包括底板(6)、竖板(7)和斜板(8);所述的底板(6)水平设置,底板(6)的一端与竖板(7)的一端垂直连接,另一端与斜板(8)的一端倾斜连接;所述的竖板(7)的另一端设置有圆弧槽口(10);所述的斜板(8)的中部设置有通孔(9);

所述的表座(3)的形状为长方体,水平设置在百分表(4)下方的套筒上;

所述的校对规(5)的形状为U形。

2.根据权利要求1所述的一种测量空间基准孔深度的检测工具,其特征在于:所述的圆弧槽口(10)的直径与连杆轴颈的直径相等;所述的竖板(7)的宽度与工件的连杆轴颈的宽度相等;所述的斜板(8)与竖板(7)呈夹角α;所述的夹角α和空间基准孔倾斜的角度相等。

3.根据权利要求1所述的一种测量空间基准孔深度的检测工具,其特征在于:所述的校对规(5)中部的U型凹槽的深度根据曲轴标准件中空间基准孔的深度设计。

4.根据权利要求1所述的一种测量空间基准孔深度的检测工具,其特征在于:所述的斜板(8)的上表面和表座(3)的底面为相互配合的测量基准面;所述的校对规(5)的顶面与表座(3)的底面为相互配合的校对基准面;所述的校对规(5)中部的U型凹槽的底面为校准基准面。

5.一种测量空间基准孔深度的检测方法,其特征在于:使用如权利要求1-4任一所述的检测工具测量空间基准孔深度,具体包括以下步骤:

1)将安装好表座(3)的百分表(4)平放在校对规(5)上,表座(3)的底面与校对规(5)的顶面无间隙接触,并将百分表(4)调零,完成百分表(4)的校准;

2)将检具体(2)的竖板(7)无间隙平放在待测空间基准孔的连杆轴颈上方,并使圆弧槽口(10)卡入连杆轴颈中,无松动,完成检具体(2)在工件上的安装定位;

3)将校准好的百分表(4)无间隙的平放在斜板(8)的上表面,无松动,百分表(4)的探测头穿过通孔(9)抵达待测工件的空间基准孔的底部平面,通过读取百分表(4)指针偏摆量,即可以判定待测空间基准孔深度是否符合图纸要求。

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