[发明专利]一种显示面板、像素检测方法和显示装置

权利要求书

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：

衬底基板，包括显示区和至少位于显示区一侧的周边区，所述显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区至少部分围绕所述第二显示区；

第一子像素，位于所述第一显示区，所述第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，所述第一像素电路和所述第一发光元件在所述衬底基板上的正投影至少部分重叠；

第二子像素，包括第二像素电路和第二发光元件，所述第二像素电路位于所述第一显示区，所述第二发光元件位于所述第二显示区，所述第二像素电路和所述第二发光元件通过导电线连接；

第一数据线，位于所述第一显示区，与所述第一像素电路电连接；

第二数据线，位于所述第一显示区，至少与所述第二像素电路电连接；

第一测试电路，位于所述周边区域，与所述第一数据线连接；

第二测试电路，位于所述周边区域，与所述第二数据线连接；

所述第一测试电路和所述第二测试电路被配置为在不同时段向所述第一像素电路和所述第二像素电路传输能使所述第一子像素和所述第二子像素点亮的测试数据信号。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二测试电路包括第一电压输入电路、第一开关电路和第一控制信号输入电路，所述第二测试电路被配置为在所述第一控制信号输入电路的控制下将所述第一电压输入电路提供的测试数据信号通过所述第一开关电路传输至所述第二数据线。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第二数据线包括第一子数据线、第二子数据线、第三子数据线和第四子数据线，所述显示面板还包括：

第一连接导线，连接所述第二测试电路与所述第一子数据线；

第二连接导线，连接所述第二测试电路与所述第二子数据线；

第三连接导线，连接所述第二测试电路与所述第三子数据线；

第四连接导线，连接所述第二测试电路与所述第四子数据线。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关电路包括：

第一子开关电路，所述第一子开关电路包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号，所述第一晶体管和所述第二晶体管的第二电极分别被配置为与所述第一连接导线电连接，所述第一晶体管和所述第二晶体管的控制电极分别被配置为接收第一开关信号；

第二子开关电路，所述第二子开关电路包括第三晶体管和第四晶体管，所述第三晶体管和所述第四晶体管的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号，所述第三晶体管和所述第四晶体管的第二电极分别被配置为与所述第一连接导线电连接，所述第三晶体管和所述第四晶体管的控制电极分别被配置为接收第二开关信号；

第三子开关电路，所述第三子开关电路包括第五晶体管，所述第五晶体管的第一电极被配置为接收第三测试数据信号，所述第五晶体管的第二电极被配置为与所述第二连接导线电连接，所述第五晶体管的控制电极被配置为接收第三开关信号；

第四子开关电路，所述第四子开关电路包括第六晶体管和第七晶体管，所述第六晶体管和所述第七晶体管的第一电极分别被配置为接收第一测试数据信号，所述第六晶体管和所述第七晶体管的第二电极被配置为与所述第三连接导线电连接，所述第六晶体管和所述第七晶体管的控制电极被配置为接收第二开关信号；

第五子开关电路，所述第五子开关电路包括第八晶体管和第九晶体管，所述第八晶体管和所述第九晶体管的第一电极分别被配置为接收第二测试数据信号，所述第八晶体管和所述第九晶体管的第二电极被配置为与所述第三连接导线电连接，所述第八晶体管和所述第九晶体管的控制电极被配置为接收第一开关信号；

第六子开关电路，所述第六子开关电路包括第十晶体管，所述第十晶体管的第一电极被配置为接收第三测试数据信号，所述第十晶体管的第二电极被配置为与所述第四连接导线电连接，所述第十晶体管的控制电极被配置为接收第三开关信号。