[发明专利]量子比特的奇偶校验方法、超导量子芯片

权利要求书

1.一种量子比特的奇偶校验方法，其特征在于，所述方法包括：

为量子比特激发状态测量环境中配置测量系统，所述测量系统包括：第一数据量子比特、第二数据量子比特以及辅助量子比特；

确定所述第一数据量子比特的第一工作点频率参数；

确定所述第二数据量子比特的第二工作点频率参数；

确定所述辅助量子比特的第三工作点频率参数；

基于所述第一工作点频率参数、所述第二工作点频率参数以及所述第三工作点频率参数，确定与所述量子比特激发状态测量环境相匹配的逻辑门；

根据所述逻辑门对所述量子比特激发状态测量环境中量子比特的奇偶性进行校验。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述为量子比特激发状态测量环境中配置测量系统，所述测量系统包括：第一数据量子比特、第二数据量子比特以及辅助量子比特，包括：

确定所述第一数据量子比特与所述辅助量子比特之间的第一耦合强度；

确定所述第二数据量子比特与所述辅助量子比特之间的第二耦合强度；

确定所述第一数据量子比特与所述第二数据量子比特之间的耦合强度为0；

根据所述第一耦合强度和所述第二耦合强度，对所述第一数据量子比特、第二数据量子比特以及辅助量子比特的位置进行调整。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定所述第一数据量子比特的第一本征频率参数和第一非谐性参数，基于所述第一本征频率参数和第一非谐性参数，确定所述第一数据量子比特的第一比特能级；

确定所述第二数据量子比特的第二本征频率参数和第二非谐性参数，基于所述第二本征频率参数和第二非谐性参数，确定所述第二数据量子比特的第二比特能级；

确定所述辅助量子比特的第三本征频率参数和第三非谐性参数，基于所述第三本征频率参数和第三非谐性参数，确定辅助量子比特的第三比特能级。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一工作点频率参数、所述第二工作点频率参数以及所述第三工作点频率参数，确定与所述量子比特激发状态测量环境相匹配的逻辑门，包括：

当所述第一工作点频率参数、所述第二工作点频率参数以及所述第三工作点频率参数满足以下条件：

第三本征频率参数和第三非谐性参数的加和等于第一本征频率参数，并且所述第三本征频率参数和第三非谐性参数的加和等于第二本征频率参数时，

确定所述量子比特激发状态测量环境相匹配的逻辑门为控制泡利Z门；

为所述第一数据量子比特和所述辅助量子比特配置第一控制泡利Z门；

为所述第二数据量子比特和所述辅助量子比特配置第二控制泡利Z门。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述逻辑门对所述量子比特激发状态测量环境中量子比特的奇偶性进行校验，包括：

根据所述第一控制泡利Z门和所述第二控制泡利Z门，确定所述测量系统的第一哈密顿量参数；

基于所述测量系统中的哈达玛门，对所述第一哈密顿量参数进行调整，得到第二哈密顿量参数；

通过对所述第二哈密顿量参数进行宇称测量，得到对所述量子比特激发状态测量环境中量子比特的奇偶性进行校验的第一奇偶校验结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述输入态相位不变时，对所述第二哈密顿量参数进行转换处理，得到第三哈密顿量参数；

根据所述第三哈密顿量参数，确定所述辅助量子比特的状态；

当所述辅助量子比特的状态为所述辅助量子比特发生翻转时，确定所述量子比特为偶数激发状态；

当所述辅助量子比特的状态为所述辅助量子比特保持不变时，确定所述量子比特为奇数激发状态。