[发明专利]一种集成电路测试机的自诊断电路及方法

说明书

本发明涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路及方法。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD‑EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD‑EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD‑EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块；同现有技术相比，充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。采用互联互测方案，对相同的测试项，可以并发性测试，奇数和偶数通道各测一次即可，节省了时间成本。

技术领域

本发明涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路及方法。

背景技术

集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，最多有1152 数字通道，72 个测量单元通道，72个供电通道、72个高压数字通道。由于测试资源较多，用外用设备手工量测已经为不现实，并且依赖于外部设备对集成电路测试机的测试资源进行检测，会增加测试成本。

目前集成电路测试机有几种自诊断方法，一是选取典型芯片，制作专用诊断电路测试板，基于该芯片完成测试。该方法的优点是能够模拟测试环境完成自诊断功能，缺点是为了完成芯片外围电路测试，制作完整的电路，制作成本高，同时受芯片功能限制，可能不能覆盖集成电路测试机的所有资源通道。二是采用外接测量仪器，通过专用电路板切换通道，并且将外接仪器的测量结果读回。该方法的优点是第三方仪器与测试机独立，能够准确定位诊断。缺点是，此类第三方测试仪器价格昂贵，而且不可能每个测试通道挂一个仪器，因此集成电路测试机的多通道只能串行测量，造成测量时间太长，动辄几个小时。

发明内容

本发明为克服现有技术的不足，设计一种集成电路测试机的自诊断电路及方法，利用ODD-EVEN载具板与Utility Diag载具板，充分利用集成电路测试机自身资源，将被测量资源和测量资源成对捆绑进行自诊断，不依赖外部设备进行测试，降低了测试成本，节约了测试时间。

为实现上述目的，设计一种集成电路测试机的自诊断电路，包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD-EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD-EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD-EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块；

其自诊断方法具体包括如下步骤：

S1，在集成电路测试机上安装ODD-EVEN载具板；

S2，分别对数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块进行自诊断；

S3，对高压数字通道模块进行自诊断；

S4，在集成电路测试机上安装Utility Diag载具板；

S5，对多功能继电器模块进行自诊断；

所述的步骤S2中对数字通道模块进行自诊断的方法具体包括如下步骤：S21-1，选择要诊断的数字通道模块；

S21-2，数字通道模块上所有奇数数字通道输出VIH电压，偶数数字通道的测量单元测量对应的奇数数字通道的输出电压值；

S21-3，比较步骤S21-2中偶数数字通道测量电压值与奇数数字通道的输出电压值是否在+/-5%内，若在，则输出pass，若不在，则给出报警提示；

S21-4，数字通道模块上所有偶数数字通道输出VIL电压，奇数数字通道的测量单元测量对应的偶数数字通道的输出电压值；

S21-5，比较步骤S21-4中奇数数字通道测量电压值与偶数数字通道的输出电压值是否在+/-5%内，若在，则输出pass，若不在，则给出报警提示；