[发明专利]温度计算方法、微控制器、测试系统及可读存储介质

权利要求书

1.一种温度计算方法，应用于微控制器中，其特征在于，所述方法包括：

获取第一温度信息和第一电压信息，所述第一温度信息通过测试系统对第一环境的温度进行采集得到，第一电压信息通过微控制器的温度采集单元对第一环境的温度进行转换得到；

获取第二电压信息，所述第二电压信息通过所述温度采集单元对第二环境进行温度采集得到；

根据第一温度信息、第一电压信息和第二电压信息计算第二环境的第二温度信息。

2.根据权利要求1所述的温度计算方法，其特征在于，所述第二温度信息通过以下计算式计算得到：

其中，T₁为第一温度信息，T₂为第二温度信息，V₁第一电压信息，V₂为第二电压信息，A为温度与电压之间的线性关系系数。

3.一种微控制器，其特征在于，所述微控制器包括：

处理单元，用于获取第一温度信息和第一电压信息，所述第一温度信息通过测试系统对第一环境的温度进行采集得到，所述第一电压信息通过微控制器的温度采集单元对第一环境的温度进行转换得到；

温度采集单元，与处理单元连接，用于采集第二环境的第二电压信息，并向处理单元输出所述第二电压信息；

所述处理单元还用于根据第一温度信息、第一电压信息和第二电压信息计算第二环境的第二温度信息。

4.根据权利要求3所述的微控制器，其特征在于，所述处理单元具体用于根据以下计算式计算第二温度信息：

其中，T₁为第一温度信息，T₂为第二温度信息，V₁第一电压信息，V₂为第二电压信息，A为温度与电压之间的线性关系系数。

5.根据权利要求3所述微控制器，其特征在于，所述温度采集单元包括温度传感器和AD转换子单元；

所述温度传感器用于采集第一环境的第三电压信息，以及用于采集第二环境的第四电压信息；

所述AD转换子单元用于将所述第三电压信息进行AD转换，得到第一电压信息；

所述AD转换子单元还用于将第四电压信息进行AD转换，得到第二电压信息。

6.一种测试系统，所述测试系统与微控制器连接，并均设置于第一环境中，其特征在于，所述系统包括：

温度采集模块，用于采集所述第一环境的第一温度信息；

处理模块，与温度采集模块连接，用于接收所述第一温度信息和第一电压信息，第一电压信息通过微控制器的温度采集单元对第一环境的温度进行采集得到；

所述处理模块还与所述微控制器连接，用于向微控制器发送第一温度信息和第一电压信息，以使所述微控制器将第一温度信息和第一电压信息对应存储，从而使所述微控制器根据第一温度信息和第一电压信息采用权利要求1或2所述的温度计算方法进行温度计算。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述温度采集模块与所述微控制器处于同一空间内。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括测试负载板，所述微控制器设置于所述负载测试板上，所述负载测试板用于使微控制器工作。

9.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述处理模块包括自动测试装置。

10.一种可读存储介质，所述可读存储介质存储有温度计算方法的程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1或2所述温度计算方法的步骤。