[发明专利]温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法

说明书

本发明提供了一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法，包括：标准温度发生器，产生温度传感器精度测试所需的温度；PC机，与标准温度发生器和被测温度传感器芯片连接；上位机软件：控制标准温度发生器，读取温度传感器芯片温度，自动完成温度传感器芯片全温度范围内精度测试。本发明提供的自动化测试的方法可以缩短温度芯片的全温测试时间，减少测试人员投入，避免测试中的人为主观影响和干扰，较大地提高了测试效率和测试结果可靠性。

技术领域

本发明涉及温度传感器测试装置，具体地，涉及一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法。

背景技术

温度传感器芯片全温精度的传统测试方法是，人工设定温度发生器的温度值，人工判定标准环境温度是否达到稳定状态，人工测试并记录当前待测芯片的温度值，重复该过程直到覆盖所需温度点。

在公开号为CN109799008A的中国发明专利申请文件中，公开了一种温度传感器自动校准方法及温度传感器，温度传感器自动校准方法包括：接收温度标准源检测的标准环境温度；利用温度传感器节点对环境温度进行检测，以获取检测环境温度；判断标准环境温度和检测环境温度的差值是否在误差范围内；若差值不在误差范围内，则根据标准环境温度对温度传感器节点进行自动校准；通过设置温度标准源，温度标准源对环境温度进行精确测量，且回发检测获得的标准环境温度，根据该标准环境温度判断是否发生偏移，并且在发生偏移时进行自动校准，从而无需对温度传感器进行人工校准，极大节省了人力成本和时间成本。但仅是单温度点的温度测试和校准，没有对标准环境温度的自动变化和控制，没有做到全温范围内的测试和校准。

在公告号为CN107607228B的中国发明专利文件中，公开了一种温度传感器检测装置，即标准温度发生器，并描述了温度传感器的精度测量方法。但没有将温度发生器的控制和待测温度传感器温度读取联动起来，没有将全温测量自动化。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法。

根据本发明提供的一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统，包括：

标准温度发生器，产生温度传感器精度测试所需的温度；

PC机，与标准温度发生器和被测温度传感器芯片连接；

上位机软件：控制标准温度发生器，读取温度传感器芯片温度，自动完成温度传感器芯片全温度范围内精度测试。

优选的，所述标准温度发生器采用RS232、RS485、USB、Ethernet通讯接口中的任意一种与PC机连接。

优选的，所述PC机采用USB、RS232、Bluetooth通讯接口中的任意一种与被测温度传感器芯片连接。

优选的，所述上位机软件实时检测线缆脱落及读数异常情况，一旦检测到与标准温度发生器的电缆脱落则弹窗告知用户检查线缆，或检测到待测芯片温度读值异常时弹窗告知用户。

优选的，所述上位机软件在全部温度点测量测试结束后，生成全温温度曲线图和数据表格。

根据本发明提供的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试方法，包括以下步骤：

步骤S1：按照用户设定的待测温度点依次设置标准温度发生器的温度，设定后，实时读取标准温度发生器的实际温度；

步骤S2：当标准温度发生器的实际温度与设定温度的误差在1分钟内都满足小于0.1℃时，上位机软件读取待测芯片的温度值并记录；

步骤S3：完成某温度点的测量任务后，上位机软件自动监测是否完成所有温度点的测量任务，若否，则设置标准温度发生器为下一个待测温度点，重复步骤S1～步骤S2；若是，则整理数据，生成全温温度曲线图和数据表格。