[发明专利]通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法

说明书

本发明实施例提供了一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法。具体的，首先用探头采集介质透镜离焦平面的实际幅值，再将计算机随机生成的初始幅值与初始相位作为初始场的场强，再将上述初始场经介质透镜传输至离焦平面，计算出频域相位以及频域幅值，将计算得到的频域幅值和频域相位作为频域场的场强，并基于由预设离焦平面的频域场得到的空域场的场强与对应离焦平面实际场的场强，计算异构输入场的场强，再采用GS‑HIO算法对上述异构输入场进行预设次数迭代计算，得到相位恢复结果。本发明实施例中，采用GS‑HIO算法恢复相位，可加快算法的收敛速度，且通过多次迭代计算，提高了通过幅值恢复相位的准确性。

技术领域

本发明涉及紧缩场天线测量技术领域，特别是涉及一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前，天线测量通常通过紧缩场系统实现。紧缩场天线测量系统是将由馈源发出的球面波，通过反射镜的聚焦和变换，最终转化成一种近似平面波的测试系统。其应用近场聚焦原理，在测量天线近区产生一个准平面波区，此准平面波区即为静区，静区范围内的平面波的幅度和相位条件，满足天线测量对平面波照射环境的基本要求。紧缩场天线测量系统可满足各波段天线的辐射特性测试对测量距离、电磁环境和测量设备三方面的要求。

在使用紧缩场天线测量系统进行测量之前，需要评估其静区中的准平面波与理想平面波的相似程度，也就是说，需要对静区中准平面波的幅值相位数据进行测量，并基于幅值相位数据来评判静区的质量。

然而实际工作中，由于存在诸多影响因素，如电缆的扰动、温度变化、探头位置误差等，会导致幅值失真不严重，但相位严重失真，不能满足测量需求。因此，通过幅值来恢复相位的无相位测量方法是紧缩场天线测量系统中一个很重要的应用。

目前已有的紧缩场天线测量系统中的通过幅值来恢复相位的方法，多适用于较低频段，用于较高频段时，公式展开后会出现大量未知信息，会出现较大的相位恢复误差，导致通过幅值恢复相位的准确性较低。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法、装置、电子设备及存储介质，以提高通过幅值恢复相位的准确性。具体技术方案如下：

本发明实施例的一个方面，提供了一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法，所述天线测量系统的静区平面中设置有介质透镜，所述方法可以包括：

计算机获得探头采集的所述介质透镜的至少两个预设离焦平面中的实际幅值；

生成初始相位以及初始幅值，将所述初始幅值和初始相位作为所述静区平面中目标区域内初始场的场强；

计算所述初始场经所述介质透镜后，进行角谱传输至所述至少两个预设离焦平面的频域相位；

计算机计算所述初始场经所述介质透镜后，进行角谱传输至所述至少两个预设离焦平面的频域幅值；分别将所述至少两个预设离焦平面的频域幅值和频域相位作为所述离焦平面频域场的场强；

基于所述频域场的场强，获取对应空域场的场强，所述空域场的场强包括空域幅值以及空域相位；将所述至少两个预设离焦平面中的实际幅值与空域相位作为所述离焦平面中实际场的场强；

基于所述实际场的场强和所述空域场的场强，计算所述初始场的场强，将求解出的初始场的场强作为异构输入场的场强；所述异构输入场的场强包括异构输入相位以及异构输入幅值；

采用GS-HIO算法，对所述异构输入场的场强进行预设次数的迭代计算，得到目标恢复相位；

判断GS-HIO算法是否收敛，如果收敛，则将收敛时得到的目标恢复相位作为相位恢复结果；如果未收敛，则返回所述生成初始相位以及初始幅值，将所述初始幅值和初始相位作为所述静区平面中目标区域内初始场的场强的步骤。