[发明专利]膜检验系统、涂布装置和膜的制造方法

说明书

提供一种能够导入连续的膜生产线、可准确进行被输送的膜的光学特性监测的膜检验系统。还提供涂布装置和膜的制造方法。一种膜检验系统，其特征在于，为对被连续输送的膜进行检测的膜检验系统，具备与该膜的一个面接近地配置的多个光源、与该膜的另一面接近地配置的多个检测器、以及对前述光源进行驱动的光源控制部，前述检测器检测来自前述膜的出射光的色彩信息。

技术领域

本发明涉及膜检验系统、涂布装置和膜的制造方法。

背景技术

在液晶显示装置的背光等中，以蓝色发光二极管(蓝色LED)为光源提取白色光时，广泛进行的是在蓝色LED的光出射侧设置含有荧光体的片(所谓荧光体片)，使蓝色光转变为白色光。如果这样的荧光体片在厚度、荧光体的量上发生波动，则会影响色度等光学特性，使装置的功能恶化。因此在制造荧光体片时，监测光学特性、进行品质管理是重要的。

作为这样的解决方案，例如专利文献1公开了一种检验装置，在含有荧光体的片状构件的多个不同的位置，利用物镜捕捉光，测定该光的光谱。表明利用该检验装置，能够针对片状构件测定色度的面内分布。

此外，例如专利文献2公开了下述制造方法：对于将含有荧光体的组合物注塑成型而得到的片状成型体，测定光的色度，将测得的色度反馈到注塑成型，调整成型的成型体的厚度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2017-090388号公报

专利文献2：日本特开2014-079905号公报

发明内容

发明所要解决的课题

因此，上述那样的荧光体片、特别是在具有大型屏幕的装置中使用的荧光体片一般利用所谓卷对卷方式的涂布装置来连续制造。而且，以卷对卷方式制造荧光体片时，要求准确地监测片的面内的色度等光学特性的波动并将监测结果反馈到制造设备(制造条件)。

关于这一点，专利文献1的检验装置是在离线环境下进行光谱测定。因此，无法将专利文献1的检验装置导入卷对卷式涂布装置等连续的膜生产线，此外，也无法串联式(inline)并实时地进行光谱测定。

此外，专利文献2的制造方法的前提是利用注塑成型进行成型，因此无法适用于卷对卷方式等连续的膜制造。进一步，专利文献2的制造方法中，单点进行色度测定，因此监测的精度不足。

这样一来，已知的技术无法满足利用连续的生产线制造荧光体片(荧光体膜)时对于品质管理的高要求。

因此，本发明的课题在于，解决以往的上述各项问题，达到以下目的。即，本发明的目的在于，提供能够导入连续的膜生产线、可准确进行被输送的膜的光学特性监测的膜检验系统。

此外，本发明的目的在于，提供可连续地制造膜并且可准确进行所得到的膜的光学特性监测的涂布装置。

进一步，本发明的目的还在于，提供可制造面内的光学特性的波动降低的膜的膜制造方法。

用于解决课题的方法

用于达到前述目的的方案如下。

1一种膜检验系统，其特征在于，为对被连续输送的膜进行检验的膜检验系统，具备与该膜的一个面接近地配置的多个光源、与该膜的另一面接近地配置的多个检测器、以及对前述光源进行驱动的光源控制部，前述检测器检测来自前述膜的出射光的色彩信息。

2根据1所述的膜检验系统，前述多个光源在前述膜的宽度方向上并排配置，

前述多个检测器在前述膜的宽度方向上并排配置。

3根据1或2所述的膜检验系统，前述光源为LED模块。