[发明专利]透光区域的分析方法以及相关设备、装置

说明书

本申请公开了一种透光区域的分析方法以及相关设备、装置，其中，透光区域的分析方法包括：基于面板和光学器件的光学参数，得到第一模型；其中，光学器件包括光线发射器件、图像采集器件中至少一者，面板包括相背设置的第一表面和第二表面，光学器件靠近于第一表面设置；基于第一模型进行光学仿真，得到光学器件的光路；基于光路在第二表面的交点，得到光学器件在面板上的透光区域。上述方案，能够提高分析透光区域的效率，并降低分析透光区域的成本。

技术领域

本申请涉及光学技术领域，特别是涉及一种透光区域的分析方法以及相关设备、装置。

背景技术

近年来，随着电子信息技术的快速发展，监控相机、手机、平板电脑等逐渐成为人们日常生活、娱乐及办公必不可少的终端设备。诸如此类终端通常集成有诸如图像采集器件、光线发射器件等光学器件，且为追求美观，光学器件通常设置于面板下方，且在面板上需留有光学器件的透光区域，而若透光区域过大，影响整体美观，反之若透光区域偏小，则会产生暗角，影响正常光路。

目前，通常先设计并制造出样品，之后再进行实际测试，效率较低，且多次测试也在无形中增加了成本。有鉴于此，如何提高分析透光区域的效率，并降低分析透光区域的成本，成为亟待解决的问题。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种透光区域的分析方法以及相关设备、装置，能够提高分析透光区域的效率，并降低分析透光区域的成本。

为了解决上述问题，本申请第一方面提供了一种透光区域的分析方法，包括：基于面板和光学器件的光学参数，得到第一模型；其中，光学器件包括光线发射器件、图像采集器件中至少一者，面板包括相背设置的第一表面和第二表面，光学器件靠近于第一表面设置；基于第一模型进行光学仿真，得到光学器件的光路；基于光路在第二表面的交点，得到光学器件在面板上的透光区域。

为了解决上述问题，本申请第二方面提供了一种电子设备，包括相互耦接的处理器和存储器，存储器存储有程序指令，处理器用于执行程序指令以实现上述第一方面中的透光区域的分析方法。

为了解决上述问题，本申请第三方面提供了一种存储装置，存储有能够被处理器运行的程序指令，程序指令用于实现上述第一方面中的透光区域的分析方法。

上述方案，基于面板和光学器件的光学参数，得到第一模型，且光学器件包括光线发射器件、图像采集器件中的至少一者，面板包括相背设置的第一表面和第二表面，光学器件靠近于第一表面设置，在此基础上，基于第一模型进行光学仿真，得到光学器件的光路，从而基于光路在第二表面的交点，得到光学器件在面板上的透光区域。故此，通过光学参数构建仿真模型即确定光学器件在面板上的透光区域，而无需设计、制造并测试样品，进而能够提高分析透光区域的效率，并降低分析透光区域的成本。

附图说明

图1是本申请透光区域的分析方法一实施例的流程示意图；

图2是第一模型一实施例的示意图；

图3是第一模型另一实施例的示意图；

图4是透光区域一实施例的示意图；

图5是第一模型又一实施例的示意图

图6是本申请透光区域的分析方法另一实施例的流程示意图；

图7是第二模型一实施例的示意图；

图8是第二模型另一实施例的示意图；

图9是第一光强分布情况一实施例的示意图；

图10是第二光强分布情况一实施例的示意图；

图11是本申请电子设备一实施例的框架示意图；

图12是本申请存储装置一实施例的框架示意图。

具体实施方式