[发明专利]软件缺陷信息获取方法及装置

说明书

本申请提供了一种软件缺陷信息获取方法及装置，该方法包括：在测试过程中，响应于用户的缺陷截图指令，对被测软件当前的测试界面进行截图，得到测试界面的缺陷图像；将缺陷图像加载至预设的显示窗口；在用户通过显示窗口输入缺陷描述信息的情况下，获取用户所输入的缺陷描述信息；当接收到存储指令时，将显示窗口中的缺陷图像和所获取的缺陷描述信息进行关联存储。本技术方案中，在对测试界面进行截图后，将截图得到的缺陷图像加载至预设的显示窗口，用户可以直接在显示窗口中输入缺陷描述信息，从而在接收到存储指令的情况下，可以直接将显示窗口中的缺陷图像和用户所输入的缺陷描述信息进行关联存储，提高缺陷信息获取速度，从而提高测试效率。

技术领域

本申请涉及软件测试领域，尤其涉及一种软件缺陷信息获取方法及装置。

背景技术

软件测试是软件生命周期中的一个重要阶段，是软件品质得以保证的重要过程，在软件测试过程中，经常涉及到软件缺陷信息的获取，也就是获取缺陷截图和与缺陷截图对应的缺陷描述信息。

现有的软件缺陷信息获取方案为：在发现软件缺陷后，调用第三方截图工具进行缺陷截图，后续在进行缺陷创建时，再选取之前的缺陷截图上传，并添加相应的缺陷描述信息。现有的软件缺陷信息获取方案需要耗费大量的时间在如何创建和描述缺陷、以及编排截图顺序上，导致软件缺陷信息获取速度慢，从而导致软件测试效率低。

发明内容

本申请提供了一种软件缺陷信息获取方法及装置，目的在于解决现有的软件缺陷信息获取方案需要耗费大量的时间在如何创建和描述缺陷、以及编排截图顺序上，导致软件缺陷信息获取速度慢，从而导致软件测试效率低的问题。

为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：

一种软件缺陷信息获取方法，包括：

在测试过程中，响应于用户的缺陷截图指令，对被测软件当前的测试界面进行截图，得到所述测试界面的缺陷图像；

将所述缺陷图像加载至预设的显示窗口；

在所述用户通过所述显示窗口输入缺陷描述信息的情况下，获取所述用户所输入的缺陷描述信息；

当接收到存储指令时，将所述显示窗口中的缺陷图像和所获取的缺陷描述信息进行关联存储。

上述的方法，可选的，所述将缺陷图像加载至预设的显示窗口之后，还包括：

响应于所述用户的编辑指令，对所述缺陷图像执行与所述编辑指令对应的编辑操作。

上述的方法，可选的，所述将所述显示窗口中的缺陷图像和所获取的缺陷描述信息进行关联存储，包括：

获取所述用户通过所述显示窗口所选择的存储方式；

基于所述用户所选择的存储方式，将所述显示窗口中的缺陷图像和所获取的缺陷描述信息进行关联存储。

上述的方法，可选的，所述基于所述用户所选择的存储方式，将所述显示窗口中的缺陷图像和所获取的缺陷描述信息进行关联存储，包括：

若所述用户所选择的存储方式为在线存储，则通过预设的接口，将所述显示窗口中的缺陷图像和所述缺陷描述信息进行关联存储至测试管理系统；

若所述用户所选择的存储方式为离线存储，则将所述显示窗口中的缺陷图像和所述缺陷描述信息进行关联存储至本地数据库。

上述的方法，可选的，所述将缺陷图像加载至预设的显示窗口之后，还包括：

响应于用户的隐藏指令，将所述显示窗口进行隐藏处理。

一种软件缺陷信息获取装置，包括：

截图单元，用于在测试过程中，响应于用户的缺陷截图指令，对被测软件当前的测试界面进行截图，得到所述测试界面的缺陷图像；