[发明专利]一种用于多通道装置测试的开关矩阵结构及测试系统

权利要求书

1.一种用于多通道装置测试的开关矩阵结构，包括用于连接测试设备的上行端口组和用于连接待测多通道装置的下行端口组，其特征在于，所述上行端口组设置有至少四个第一端口，所述第一端口由第一单刀多掷开关构成；所述下行端口组设置有至少四个第二端口，所述第二端口由第二单刀多掷开关构成；同一所述第一单刀多掷开关的各个开关臂分别与各个所述第二单刀多掷开关中的一开关臂连接；所述第一单刀多掷开关的输入端为所述第一端口的外接端，所述第二单刀多掷开关的输入端为所述第二端口的外接端。

2.如权利要求1所述的用于多通道装置测试的开关矩阵结构，其特征在于，还包括开关切换控制器；所述第一单刀多掷开关的输入端通过所述开关切换控制器控制与所述第一单刀多掷开关的开关臂连接或断开；所述第二单刀多掷开关的输入端通过所述开关切换控制器控制与所述第二单刀多掷开关的开关臂连接或断开。

3.如权利要求2所述的用于多通道装置测试的开关矩阵结构，其特征在于，所述第一单刀多掷开关内置负载电路；所述第二单刀多掷开关内置负载电路。

4.如权利要求3所述的用于多通道装置测试的开关矩阵结构，其特征在于，所述第一单刀多掷开关的数目、所述第一单刀多掷开关的开关臂数目、所述第二单刀多掷开关的数目、所述所述第二单刀多掷开关的开关臂数目均相等。

5.如权利要求4所述的用于多通道装置测试的开关矩阵结构，其特征在于，所述上行端口组由四个所述第一端口构成，所述下行端口组由四个所述第二端口构成；所述第一单刀多掷开关为SP4T，所述第二单刀多掷开关为SP4T。

6.如权利要求4所述的用于多通道装置测试的开关矩阵结构，其特征在于，所述上行端口组由八个所述第一端口构成，所述下行端口组由八个所述第二端口构成；所述第一单刀多掷开关为SP8T，所述第二单刀多掷开关为SP8T。

7.如权利要求1至6任一所述的用于多通道装置测试的开关矩阵结构，其特征在于，还包括存储有自校准文件的自校准控制器；受所述自校准控制器校准后的所述第二端口的信号从所述第一端口输出。

8.一种测试系统，其特征在于，包括测试设备、待测多通道装置和权利要求1至7任一所述的开关矩阵结构；所述测试设备通过所述开关矩阵结构与所述待测多通道装置连接。

9.如权利要求8所述测试系统，其特征在于，所述第一端口的外接端与所述测试设备连接或闲置；所述第二端口的外接端与所述待测多通道装置连接或闲置。

10.如权利要求8或9任一所述测试系统，其特征在于，所述测试设备为二端口网络分析仪、四端口网络分析仪、信号分析仪、信号发生器中的一种或几种；所述待测多通道装置为多端口射频电路、多端口滤波器、多端口天线中的一种或几种。