[发明专利]一种基于电子元件功能性测试设备及测试方法

说明书

本发明公开了一种基于电子元件功能性测试设备，包括底座，底座的上端连接有钢铁底板；本发明中第一驱动机构、第二驱动机构、第一检测机构、第三驱动机构、第二检测机构和第四驱动机构的发明可以避免人工进行电子元件的检测操作，这样的设计不但可以提高检测的质量同时还可以节省大量的时间，不仅如此，因为第一进料口、第二进料口、第一传送机构和第二传送机构的设计可以让电子元件源源不断的输入，这样就无须操作人员一边进行检测操作另一边将电子元件放入第一输送机构和第二输送机构中，从而避免了因为去拿被检测的电子元件而造成正在检测的电子元件不合格，而造成存在残次品的电子元件出售在市面，从而引起不必要的麻烦情况的发生。

技术领域

本发明涉及电子产品检测技术领域，具体涉及到一种基于电子元件功能性测试设备，更具体涉及一种基于电子元件功能性测试设备及测试方法。

背景技术

电子元件检测时，需要操作人员一边检测一边拿被检测的电子元件，这样在一定的程度上耗费了大量的时间，同时这样的操作容易出现因为去拿被检测的电子元件而造成正在检测的电子元件不合格时，操作人员无法记录下来，这样就造成存在残次品的电子元件出售在市面，从而引起不必要的麻烦，而且现在电子元件的检测操作还有一些地方存在人工检测，这样虽然保证了检测的质量，但是这样的检测方法会耗费大量的时间，不仅如此，现在电子元件检测的设备没有设计输送机构，这样就会需要人员运输电子元件，而电子元件属于易碎物品，这样就会出现人员在运输的过程中造成电子元件中的晶体部件出现损坏的情况从而造成电子元件的损坏。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，本发明提供一种基于电子元件功能性测试设备，通过本发明首先接通电源，然后第一驱动机构、第二驱动机构、第一检测机构、第三驱动机构、第二检测机构和第四驱动机构开始供电，使基于电子元件功能性测试设备开始运行，且第一驱动机构、第二驱动机构、第一检测机构、第三驱动机构、第二检测机构和第四驱动机构的运行可以同时进行两个电子元件的检测这样可以达到两倍的检测速率，而且在一定的程度上节省了检测所需的时间；当基于电子元件功能性测试设备开始进行检测操作时，需要拿起需要检测的电子元件，且根据电子元件的大小来调整第一输送机构和第二输送机构中第一滚轮连接块和第二滚轮连接块的距离，且第一输送机构和第二输送机构起到了接收电子元件的作用，同时第一输送机构和第二输送机构可以让电子元件源源不断的输入，这样就无须操作人员一边进行检测操作另一边将电子元件放入第一输送机构和第二输送机构中，从而避免了因为去拿被检测的电子元件而造成正在检测的电子元件不合格，而造成存在残次品的电子元件出售在市面，从而引起不必要的麻烦情况的发生，调整第一滚轮连接块和第二滚轮连接块的距离需要将第二滚轮连接块一侧连接的三个驱动块沿着三个圆柱体滑轨上左右移动，直到调整好第一滚轮连接块和第二滚轮连接块的距离，且第一滚轮连接块和第二滚轮连接块的距离是根据电子元件的宽度进行调整的，让第一滚轮连接块和第二滚轮连接块的距离刚好可以容纳电子元件；此时，需要检测的电子元件放在两个传送带的上侧表面上，且两个滚轮通过转动带动传送带的转动，而传送带的转动会带动电子元件向前移动，随着电子元件的移动会移动到第一传送机构和第二传送机构中的两侧凹槽上，此时，第一齿轮和第二齿轮的转动会带动链条的转动，而链条的转动会带动电子元件向前移动，直到电子元件移动到第一检测机构和第二检测机构的下方为止，且第一传送机构和第二传送机构可以将需要检测的电子元件传送到第一检测机构和第二检测机构的下方，从而方便第一检测机构和第二检测机构对电子元件进行检测操作；此时，第二驱动机构和第四驱动机构中液压机开始运行，随着液压机的运行会带动液压杆的转动，且液压杆的转动会带动第一滑块的移动，随着第一滑块的移动会带动第一检测机构和第二检测机构沿Y轴移动，且第二驱动机构和第四驱动机构可以调整第一检测机构和第二检测机构沿Y轴的距离，从而让第一检测机构和第二检测机构移动到需要检测电子元件的正上方，同时第一驱动机构和第三驱动机构中的第一滑块会带动第一检测机构和第二检测机构沿X轴移动，且第一驱动机构和第三驱动机构可以调整第一检测机构和第二检测机构沿X轴的距离，从而让第一检测机构和第二检测机构移动到需要检测电子元件的正上方，直到第一检测机构和第二检测机构移动到电子元件的正上方；此时，第一检测机构和第二检测机构中电机开始运行，随着电机的转动会带动转动轴的转动，且转动轴的转动会带动第二滑块在第二滑槽中上下移动，而第二滑块的上下移动会带动L型升降板上下移动，且L型升降板可以带动检测灯的上下移动，从而对需要检测的电子元件进行检测操作，当L型升降板触碰到电子元件时，若电子元件不通电则检测灯显示红灯，若电子元件通电正常则检测灯显示绿灯，当需要检测的电子元件检测完毕后，关闭电源结束操作，检测操作后断开电源，从而结束操作；本发明中第一驱动机构、第二驱动机构、第一检测机构、第三驱动机构、第二检测机构和第四驱动机构的发明可以避免人工进行电子元件的检测操作，这样的设计不但可以提高检测的质量同时还可以节省大量的时间，不仅如此，因为第一进料口、第二进料口、第一传送机构和第二传送机构的设计可以让电子元件源源不断的输入，这样就无须操作人员一边进行检测操作另一边将电子元件放入基于电子元件功能性测试设备之中，从而避免了因为去拿被检测的电子元件而造成正在检测的电子元件不合格，而造成存在残次品的电子元件出售在市面，从而引起不必要的麻烦情况的发生，同时第一输送机构和第二输送机构的设计，可以实现电子元件自动化传输，从而避免由于人员在运输的过程中造成电子元件中的晶体部件出现损坏的情况从而造成电子元件的损坏的情况发生，解决了上述背景技术中提到的现如今，电子元件检测时，需要操作人员一边检测一边拿被检测的电子元件，这样在一定的程度上耗费了大量的时间，同时这样的操作容易出现因为去拿被检测的电子元件而造成正在检测的电子元件不合格时，操作人员无法记录下来，这样就造成存在残次品的电子元件出售在市面，从而引起不必要的麻烦，而且现在电子元件的检测操作还有一些地方存在人工检测，这样虽然保证了检测的质量，但是这样的检测方法会耗费大量的时间的问题。