[发明专利]一种图像传感器坏点检测及校正方法在审
申请号: | 202110536809.6 | 申请日: | 2021-05-17 |
公开(公告)号: | CN113497934A | 公开(公告)日: | 2021-10-12 |
发明(设计)人: | 陈烨 | 申请(专利权)人: | 南京威派视半导体技术有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N5/367 |
代理公司: | 南京苏创专利代理事务所(普通合伙) 32273 | 代理人: | 常晓慧 |
地址: | 211100 江苏省南京市江宁区麒*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 检测 校正 方法 | ||
1.一种图像传感器坏点检测及校正方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:像素值排序,对图像中每个中心像素邻域内的像素值进行排序,如公式(1)所示,
(1)
式中和其中未展开的元素即为邻域内的像素值;
步骤2:像素值做加权平均处理,对步骤1中进行过排序的像素值通过矩阵A做加权平均,使其成为此中心像素的结果值result(xi,yi),如公式(2)所示,
(2)
式中K为矩阵A中所有元素的和;
步骤3:计算绝对差值,计算和result(xi,yi)的绝对差值diff(yi,xi),如公式(3)所示
(3);
步骤4:设定阈值,设定检测坏点的阈值T,如公式(4)所示
(4)
式中表示图像I的均值;
步骤5:坏点检测判断,通过绝对差值diff(yi,xi)和阈值T进行比较,当diff(yi,xi)≥T,判定此像素点为坏点并对此像素点进行校正,反之,此像素点为正常像素点;
步骤6:坏点校正,步骤5中检测判断出坏点,对坏点进行校正,使坏点的像素值变成中心像素的结果值,如公式(5)所示
(5)
式中表示坏点校正后的像素值。
2.根据权利要求1所述的图像传感器坏点检测及校正方法,其特征在于:所述步骤1中像素值进行排序时对中心像素的3x3邻域内的像素值进行排序,如下式所示
式中,,,,,,,和即为的3x3邻域内的像素值。
3.根据权利要求1所述的图像传感器坏点检测及校正方法,其特征在于:所述步骤2中的矩阵A为3x3矩阵,,K=16。
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