[发明专利]深度图的显示方法、显示装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号: | 202110535531.0 | 申请日: | 2021-05-17 |
| 公开(公告)号: | CN113126944B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
| 发明(设计)人: | 户磊;曹天宇;王亚运;季栋;薛远 | 申请(专利权)人: | 北京的卢深视科技有限公司;合肥的卢深视科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/14 | 分类号: | G06F3/14;G06T17/00 |
| 代理公司: | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人: | 张婧 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 深度 显示 方法 显示装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种深度图的显示方法,其特征在于,包括:
获取深度图中各像素的法向量;
基于预设的光照模型,对每个所述像素的法向量所表征的深度信息进行增强,得到每个所述像素的强度系数;
根据每个所述像素的强度系数,显示所述深度图;
所述基于预设的光照模型,对每个所述像素的法向量所表征的深度信息进行增强,得到每个所述像素的强度系数包括:
获取所述光照模型对应的模拟光源在所述像素上的光线方向向量;
根据所述像素的光线方向向量和所述像素的法向量,计算所述像素的强度系数。
2.根据权利要求1所述的深度图的显示方法,其特征在于,所述获取深度图中各像素的法向量,包括:
获取每个所述像素的初始法向量;
针对每个所述像素,根据所述像素的初始法向量和所述像素的领域像素的初始法向量,计算所述像素的法向量。
3.根据权利要求1所述的深度图的显示方法,其特征在于,所述获取深度图中各像素的法向量,包括:
针对每个所述像素,根据所述像素的深度值与所述像素的预设区域内的邻域像素的深度值,计算所述像素的法向量,其中,所述预设区域的边长大于所述像素的直径的3倍。
4.根据权利要求3所述的深度图的显示方法,其特征在于,针对每个所述像素,所述根据所述像素的深度值与所述像素的预设区域内的邻域像素的深度值,计算所述像素的法向量,包括:
针对每个所述像素,根据所述像素的深度值与所述像素的预设区域内的邻域像素的深度值,计算所述像素的初始法向量;
根据所述像素的初始法向量,以及所述像素的预设区域内的邻域像素的初始法向量,计算所述像素的法向量。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的深度图的显示方法,其特征在于,在所述获取深度图中各像素的法向量之前,所述深度图的显示方法还包括:
调用不同的处理线程分别读取所述深度图的深度值,以并行计算所述深度图的各像素的法向量。
6.根据权利要求1所述的深度图的显示方法,其特征在于,所述根据所述像素的光线方向向量和所述像素的法向量,计算所述像素的强度系数,包括:
计算所述像素的光线方向向量和所述像素的法向量的数量积,作为所述像素的强度系数。
7.一种深度图的显示装置,其特征在于,包括:获取模块、计算模块和显示模块;
所述获取模块用于获取深度图中各像素的法向量;
所述计算模块用于基于预设的光照模型,对每个所述像素的法向量所表征的深度信息进行增强,得到每个所述像素的强度系数;
所述显示模块用于根据每个所述像素的强度系数,显示所述深度图;
所述计算模块具体用于获取所述光照模型对应的模拟光源在所述像素上的光线方向向量;根据所述像素的光线方向向量和所述像素的法向量,计算所述像素的强度系数。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:至少一个处理器;以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至6中任一项所述的深度图的显示方法。
9.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的深度图的显示方法。
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