[发明专利]激光选区熔化加工过程旁轴监测方法、装置及计算机设备有效

专利信息
申请号: 202110521117.4 申请日: 2021-05-13
公开(公告)号: CN113245566B 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 郎利辉;郑航 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: B22F12/90 分类号: B22F12/90;B22F10/28;B22F12/00;B22F10/31;B33Y30/00;B33Y40/00
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 程江涛
地址: 100089*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 激光 选区 熔化 加工 过程 监测 方法 装置 计算机 设备
【权利要求书】:

1.一种激光选区熔化加工过程旁轴监测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取单次激光扫描过程中依次采集熔池的多张扫描图像;

将多张所述扫描图像进行叠加,获得过程监测图像;

基于所述过程监测图像进行图像分析,确定单次激光扫描过程是否存在缺陷;所述基于所述过程监测图像进行图像分析,确定单次激光扫描过程是否存在缺陷,具体包括:对所述过程监测图像进行图像识别,获得熔池图像;确定所述熔池图像是否存在不规则点;如果存在不规则点,则说明单次激光扫描过程不平滑,存在缺陷;如果不存在不规则点,则说明单次激光扫描过程平滑,不存在缺陷;所述确定所述熔池图像是否存在不规则点具体包括:识别所述熔池图像的边界线;确定所述边界线的预设范围内是否存在坐标突变点;若存在坐标突变点,则说明所述熔池图像存在不规则点;若不存在坐标突变点,则说明所述熔池图像不存在不规则点;

若存在缺陷,对存在缺陷的区域重新激光扫描;所述若存在缺陷,对缺陷的区域重新激光扫描,具体包括:若存在缺陷,确定存在缺陷的激光扫描位置;激光扫描位置为存在缺陷的区域;对存在缺陷的激光扫描位置进行重新扫描或者修改扫描参数后对所述存在缺陷的激光扫描位置进行重新扫描;在对边界线的采样点的坐标值分析得到边界线的预设范围存在坐标突变点时,确定以坐标突变点为中心的预设范围为存在缺陷的激光扫描位置,对存在缺陷的激光扫描位置进行重新扫描以对缺陷进行修补,通过步骤“基于所述过程监测图像进行图像分析,确定单次激光扫描过程是否存在缺陷”再次对激光扫描过程是否存在缺陷进行判定,若仍存在缺陷则再次重新扫描或者修改扫描参数重新扫描,直至判定的激光扫描过程不存在缺陷为止;当单次激光扫描为单层扫描时,进一步还对边界线的高度和倾斜角度进行判定以确定单层扫描整体是否存在缺陷,边界线为平行四边形,将平行四边形的边界线的高度和倾斜角度与预设的标准高度和倾斜角度进行比对以确定平行四边形的边界线是否与标准形状相符,若相符,则确定该单次激光扫描的质量较高,不存在缺陷,若不相符,则确定该单次激光扫描的质量较低,存在缺陷,在此情况下,缺陷是激光扫描参数的设置不合理,需要重新调整激光扫描参数并再次进行激光扫描,通过多次调整确定合理的激光扫描参数以使边界线与标准形状相符,达到最优的激光扫描质量,对激光选区熔化加工工艺的质量进行控制。

2.根据权利要求1所述的激光选区熔化加工过程旁轴监测方法,其特征在于,所述确定所述边界线的预设范围内是否存在坐标突变点,具体包括:

确定所述预设范围内的边界线上相邻采样点在垂直于激光扫描方向上的坐标差值是否大于预设标准值;

若大于预设标准值,则说明存在坐标突变点;

若小于或等于预设标准值,则说明不存在坐标突变点。

3.根据权利要求1所述的激光选区熔化加工过程旁轴监测方法,其特征在于,所述边界线包括位于与激光扫描的起始点和终止点分别对应的两侧边缘区域以及位于所述两侧边缘区域间的中央区域,所述边界线的预设范围为所述中央区域。

4.根据权利要求1所述的激光选区熔化加工过程旁轴监测方法,其特征在于,在所述基于所述过程监测图像进行图像分析,确定单次激光扫描过程是否存在缺陷之前还包括:

将所述过程监测图像转换为灰度图像;

根据预设阈值对所述灰度图像进行二值化处理。

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