[发明专利]检测框自适应外扩方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202110519451.6 | 申请日: | 2021-05-13 |
公开(公告)号: | CN112949661B | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 秦勇 | 申请(专利权)人: | 北京世纪好未来教育科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06K9/32 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 郭丽祥;杨瑾瑾 |
地址: | 100080 北京市海淀区中*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 自适应 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种检测框自适应外扩的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待处理目标对象的第一检测框;
根据所述第一检测框的中心点坐标、及框边界外扩区域的标定坐标,对所述第一检测框进行自适应外扩处理,得到多个第二检测框;
将所述多个第二检测框中框面积最大的外扩框,确定为目标检测框;
其中,对所述第一检测框进行自适应外扩处理的过程中,还包括:
获取所采集当前图像中非第一检测框的其他检测框;
根据所述第一检测框及所述非第一检测框的其他检测框,得到所述当前图像中所有框位置的全局信息;
根据所述全局信息,确定所述框边界外扩区域的标定坐标;
其中,所述全局信息包括:中心点的横纵坐标值列表、左值列表、右值列表、上值列表和下值列表。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一检测框的中心点坐标、及框边界外扩区域的标定坐标,对所述第一检测框进行自适应外扩处理,得到多个第二检测框,包括:
获取所采集当前图像中所有检测框的坐标,其中,所述所有检测框包括:所述第一检测框及非第一检测框的其他检测框;
根据所述所有检测框的坐标,得到所述所有检测框分别对应的中心点横纵坐标值、及分别用于标定所有检测框位置的上下左右坐标值;
根据所述分别用于标定所有检测框位置的上下左右坐标值,确定所述框边界外扩区域的标定坐标;
根据所述所有检测框分别对应的中心点横纵坐标值,确定所述第一检测框的中心点坐标;
根据所述中心点坐标对所述标定坐标校正后,对所述第一检测框进行自适应外扩处理,得到所述多个第二检测框。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述分别用于标定所有检测框位置的上下左右坐标值,确定所述框边界外扩区域的标定坐标,包括:
根据所述分别用于标定检测框位置的上下左右坐标值,得到所述第一检测框相对于所述非第一检测框的其他检测框向上下左右外扩的扩展范围;
基于所述扩展范围,确定所述框边界外扩区域的标定坐标。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述分别用于标定检测框位置的上下左右坐标值,得到所述第一检测框相对于所述非第一检测框的其他检测框向上下左右外扩的扩展范围,包括:
所述分别用于标定检测框位置的上下左右坐标值,分别存储于上值列表、下值列表、左值列表和右值列表的情况下,响应于针对所述第一检测框的左扩处理,使用所述右值列表中的存储右值依序减去所述第一检测框的左值,如果得到的差值大于零,则记为所标定的负值;否则,记为绝对值,之后写入左扩列表;
在所述左扩列表中,所述负值用于表征所述第一检测框能向左无限扩展;
在所述左扩列表中,所述绝对值用于表征所述第一检测框能向左扩展所述绝对值所标定的距离。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述分别用于标定检测框位置的上下左右坐标值,得到所述第一检测框相对于所述非第一检测框的其他检测框向上下左右外扩的扩展范围,包括:
所述分别用于标定检测框位置的上下左右坐标值,分别存储于上值列表、下值列表、左值列表和右值列表的情况下,响应于针对所述第一检测框的右扩处理,使用所述左值列表中存储左值依序减去所述第一检测框的右值,如果得到的差值大于零,则记录所述差值;否则,记为所标定的负值,之后写入右扩列表;
在所述右扩列表中,所述差值用于表征所述第一检测框能向右扩展所述差值所标定的距离;
在所述右扩列表中,所述负值用于表征所述第一检测框能向右无限扩展。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京世纪好未来教育科技有限公司,未经北京世纪好未来教育科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110519451.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:折耳系统及折耳方法
- 下一篇:一种可降解材料用注塑机