[发明专利]一种基于虚拟仪器的电子元器件测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种基于虚拟仪器的电子元器件测试方法，其特征在于，所述基于虚拟仪器的电子元器件测试方法包括以下步骤：

步骤一，基于虚拟仪器平台，采用NE555定时器芯片组成电阻、电容、电感测量电路；

步骤二，进行通道选择，获得待测元件的测量值；

步骤三，主控芯片与虚拟仪器平台进行通信，将测量值传入上位机；

步骤四，通过软件自动进行处理、判断、存储并显示测试结果。

2.如权利要求1所述的基于虚拟仪器的电子元器件测试方法，其特征在于，所述步骤一中电阻、电感、电容的测量，包括：

(1)电阻测量：其中T₁为电容充电时间，T₂为电容放电时间，R₁＝1k，R₂＝1k，R_x为待测电阻；计算公式与RC振荡的硬件电路有关，频率f由单片机的定时器获取，公式(3)由公式(2)演变，通过程序编写公式(3)即可计算出待测电阻R_x；

T＝T₁+T₂＝ln2*(R_X+R₁+R₂)*C₁₂+ln2*(R₂+R_X)*C₁₂ (1)

(2)电容测量：与电阻测量方法基本一致，其中R₁＝1k，R₂＝1k，C_x为待测电容；计算公式(4)与RC振荡的硬件电路有关，频率f由单片机的定时器获取，公式(6)由公式(5)演变，通过程序编写公式(5)计算出待测电容C_x；

T＝T₁+T₂＝ln2*(R₁+R₂)*C_x+ln2*R₂*C_x (4)

(3)电感测量：电感测量采用的是电容三点式振荡，与上述的电阻、电容测量原理不同；其中C₁，C₂均已知，L_x为待测电容；计算公式(7)与电容三点式振荡的硬件电路有关，频率f由单片机的定时器获取，公式(9)由公式(8)演变，通过程序编写公式(6)即可计算出待测电容L_x；

3.一种基于虚拟仪器的电子元器件测试系统，其特征在于，所述基于虚拟仪器的电子元器件测试系统包括：

测试控制系统，用于调配系统资源，完成对被测元件的测试，处理并显示测试结果；

数据采集单元，对被测元件的测试数据进行采集和转换；

数据通信单元，将采集到的数据传输到测试控制系统；

信号产生单元，为待测元件或硬件系统电路提供必要的输入信号；

设备接口，用于为待测元件或硬件系统电路的输入及输出提供端口。