[发明专利]一种基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统

权利要求书

1.一种基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述大口径光学元件测量系统包括：

激光器（1）、第一衍射光栅（2）、第一光束调节件（3）、第二光束调节件（5）、第二衍射光栅（6）、分光镜（7）、色散元件（8）、时间透镜模块（9）、高速探测系统（10），

所述激光器（1）被配置为实现宽光谱超快脉冲激光的输出；

所述第一衍射光栅（2）被配置为实现将接收的宽光谱超快脉冲激光转换为类线型光斑，并输出至第一光束调节件（3）；

所述第一光束调节件（3）被配置为将接收的类线型光斑转换成矩形光斑，并照射于待测光学元件之上；

所述第二光束调节件（5）和第二衍射光栅（6）被配置将待测光学元件射出的光斑输出至分光镜（7）；

所述分光镜（7）被配置为将接收的光束分成两束，并分别输出至色散元件（8）和时间透镜模块（9）；

所述高速探测系统（10）被配置为对色散元件（8）和时间透镜模块（9）输出的光信号进行采集、存储和分析；

所述第一衍射光栅（2）被配置为：在夫琅禾费衍射条件下，将脉冲激光的频域信息映射到类线型的空间域，

所述第二衍射光栅（6）被配置为：在夫琅禾费衍射条件下，实现类线型的空间到频域的映射。

2.如权利要求1所述的基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述待测光学元件被配置为将接收的光斑以透射或反射的方式射出。

3.如权利要求1所述的基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述色散元件（8）为实现待测光的傅里叶色散变换，实现对待测光束的振幅高速测量。

4.如权利要求1所述的基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述时间透镜模块（9）为实现对激光相位的高速测量。

5.如权利要求1所述的基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述第一光束调节件（3）被配置为：将类线型光斑转换成矩形光斑；

所述第二光束调节件（5）被配置为：将矩形光斑转换成线状光斑。

6.如权利要求1所述的基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述高速探测系统（10）包括高速探测器、高速数据采集卡、计算机或者示波器。

7.如权利要求1所述的基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，其特征在于，所述激光器（1）包括光纤输出或空间光输出的激光器。