[发明专利]一种基于改良SECM探针的催化剂性能表征方法在审
| 申请号： | 202110509181.0 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN113281396A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 陈宇辉;陈娟;王天杰 | 申请（专利权）人： | 南京工业大学 |
| 主分类号： | G01N27/48 | 分类号： | G01N27/48;G01N31/10 |
| 代理公司： | 杭州知闲专利代理事务所(特殊普通合伙) 33315 | 代理人： | 黄燕 |
| 地址： | 211816 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 改良 secm 探针 催化剂 性能 表征 方法 | ||
1.一种基于改良SECM探针的催化剂性能表征方法，其特征在于，包括：将装满待检测催化剂粉末的所述改良SECM探针安装到扫描电化学显微镜上后按压到固体反应物上，对所述催化剂催化固体反应物进行电化学性能表征。
2.根据权利要求1所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，采用阻抗测试、线性扫描伏安法中的一种对所述催化剂进行电化学表征。
3.根据权利要求1所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，所述改良SECM探针为端部带有容纳所述待检测催化剂粉末的孔隙的微电极。
4.根据权利要求3所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，所述微电极中，金属丝的直径为5～100μm。
5.根据权利要求1所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，所述催化剂粉末的粒径为2～200nm。
6.根据权利要求1所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，所述改良SECM探针由下述方法制备得到：
将微电极的端部进行腐蚀，在所述微电极内部形成容纳所述待检测粉末的孔隙，后处理得改良SECM探针。
7.根据权利要求6所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，对所述微电极进行腐蚀时，采用热王水或浓盐酸作为腐蚀液；
当采用热王水时，腐蚀温度为100℃。
8.根据权利要求3或6所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，将所述催化剂粉末装进所述孔隙中时，采用光学显微镜观察所述孔隙是否被装满。
9.根据权利要求6所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，在对所述微电极进行腐蚀的过程中，所述微电极保持持续的匀速轴向转动。
10.根据权利要求1所述的催化剂性能表征方法，其特征在于，所述改良SECM探针上设置对所述改良SECM探针按压到固体反应物上的压力进行监控和调节的压力传感器。
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