[发明专利]一种杨氏模量的计算方法、装置、设备和存储介质在审
申请号: | 202110507252.3 | 申请日: | 2021-05-10 |
公开(公告)号: | CN113391373A | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 刘振 | 申请(专利权)人: | 三明学院 |
主分类号: | G01V11/00 | 分类号: | G01V11/00 |
代理公司: | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人: | 杨唯 |
地址: | 365000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 杨氏模量 计算方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种杨氏模量的计算方法,其特征在于,包含:
获取多个测井的井筒杨氏模量;
根据所述多个测井的井筒杨氏模量,计算位于所述多个测井所在的目标区域的多个粗井间杨氏模量;
根据所述井筒杨氏模量和所述粗井间杨氏模量,采用回归分析方法,构建约束模型;
根据所述约束模型约束所述多个粗井间杨氏模量,以获得多个精井间杨氏模量。
2.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于,所述获取多个测井的井筒杨氏模量,具体包括:
通过X-MAC测井技术计算至少一个测井的井筒杨氏模量;
根据由X-MAC测井技术计算的井筒杨氏模量,基于常规测井曲线,计算得到其余测井的井筒杨氏模量,以获得所述多个测井的井筒杨氏模量。
3.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于,所述根据所述多个测井的井筒杨氏模量,计算位于所述多个测井所在的目标区域的多个粗井间杨氏模量,具体包括:
根据所述多个测井的井筒杨氏模量,采用克里金插值法,计算位于所述多个测井所在的目标区域的多个粗井间杨氏模量。
4.根据权利要求1至3任一项所述的计算方法,其特征在于,所述根据所述井筒杨氏模量和所述粗井间杨氏模量,采用回归分析方法,构建约束模型,具体包括:
构建线性相关模型;其中,所述线性相关模型的表达式为:
Z(n)=b*E(n)+a*Δm
Z(n)为测井n处的井筒杨氏模量,E(n)为测井n处的井间杨氏模量,b为第一约束系数,a为第二约束系数,Δm为井筒杨氏模量平均值和粗井间杨氏模量平均值的差值;
根据所述井筒杨氏模量和所述粗井间杨氏模量,采用回归分析方法,计算所述线性相关模型的约束系数;
根据所述线性相关模型和所述约束系数,构建所述约束模型。
5.根据权利要求4所述的计算方法,其特征在于,所述约束模型的表达式为:
Ymod1(x)=b*Ymod2(x)+a*Δm
Ymod1(x)为位置x处的精井间杨氏模量,Ymod2(x)为位置x处的粗井间杨氏模量,b为所述第一约束系数、a为所述第二约束系数、Δm为井筒杨氏模量平均值和粗井间杨氏模量平均值的差值。
6.根据权利要求4所述的计算方法,其特征在于,所述根据所述井筒杨氏模量和所述粗井间杨氏模量,采用回归分析方法,计算所述线性相关模型的约束系数,包括:
根据多个所述井筒杨氏模量,计算不同数值的井筒杨氏模量的第一出现频率;
根据多个所述粗井间杨氏模量,计算不同数值的粗井间杨氏模量的第二出现频率;
根据所述第一出现频率和所述第二出现频率,基于回归分析模型,建立所述第一出现频率和所述第二出现频率的关系模型,获取所述第一约束系数;
获取多个所述井筒杨氏模量的第一平均值和多个所述井间杨氏模量的第二平均值;
根据所述第一平均值、所述第二平均值、所述第一约束系数,以及测井处的井筒杨氏模量和粗井间杨氏模量,基于所述线性相关模型,计算所述第二约束系数。
7.一种杨氏模量的计算装置,其特征在于,包含:
获取模块,用于获取多个测井的井筒杨氏模量;
计算模块,用于根据所述多个测井的井筒杨氏模量,计算位于所述多个测井所在的目标区域的多个粗井间杨氏模量;
构建模块,用于根据所述井筒杨氏模量和所述粗井间杨氏模量,采用回归分析方法,构建约束模型;
约束模块,用于根据所述约束模型约束所述多个粗井间杨氏模量,以获得多个精井间杨氏模量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三明学院,未经三明学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110507252.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种家用实木地板
- 下一篇:水处理用分离膜及其制备方法和应用