[发明专利]一种基于机器学习的微波频率测量系统与方法在审
| 申请号: | 202110503393.8 | 申请日: | 2021-05-08 |
| 公开(公告)号: | CN115308483A | 公开(公告)日: | 2022-11-08 |
| 发明(设计)人: | 石迪飞;李光毅;王璐;袁海庆;李明;祝宁华;李伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 机器 学习 微波 频率 测量 系统 方法 | ||
1.一种微波频率测量系统,其特征在于,包括:
幅度测量模块(100),用于将待测微波信号调制在连续宽谱光波信号上,生成调制信号,以及,将所述调制信号分为上路调制信号和下路调制信号,分别引入第一延时和第二延时后,转换为第一电信号与第二电信号;
频率测量模块(200),用于计算所述第一电信号与所述第二电信号的功率比较值,基于预设的功率比较函数,得到所述待测微波信号的频率。
2.根据权利要求1所述微波频率测量系统,其特征在于,所述系统还包括功率比较函数训练模块(300),用于构建功率比较函数,所述功率比较训练模块(300)包括:
获取模块(310),用于获取多组所述第一电信号与所述第二电信号的训练数据,针对每组所述训练数据,计算所述训练数据两两之间的功率比较值,得到多个微波信号频率和相对应的所述功率比较值;
其中,所述训练数据通过将多个已知频率的微波信号输入幅度测量模块(100)得到;
函数优化模块(320),用于基于多个所述微波信号频率和相对应的所述功率比较值,利用机器学习算法拟合得到的功率比较函数。
3.根据权利要求1所述微波频率测量系统,其特征在于,所述幅度测量模块(100)包括:
光源模块(400),用于提供连续宽谱光波信号;
待测微波信号调制模块(500),用于将所述待测微波信号调制在所述宽谱光波信号上,生成调制信号;
延时引入模块(600),用于将所述调制信号分为所述上路调制信号和所述下路调制信号,并分别引入不同的延时;
光电转换模块(700),用于将所述上路调制信号和所述下路调制信号转为所述第一电信号和所述第二电信号。
4.根据权利要求3所述微波频率测量系统,其特征在于,所述延时引入模块(600)包括:
第二偏振控制器(610),用于调整所述调制信号的偏振态与偏振分复用模拟器(620)的主轴对准;
偏振分复用模拟器(620),用于将所述调制信号引入所述第一延时;
光耦合器(630),用于将所述调制信号分为上路调制信号与下路调制信号;
第一起偏器(640),用于将上路调制信号的偏振态进行偏振合束;
第三偏振控制器(650),用于调整下路调制信号的偏振态与保偏光纤主轴对准;
保偏光纤(660),用于将所述下路调制信号引入所述第二延时;
第二起偏器(670),用于将所述下路调制信号的偏振态进行偏振合束;
第一光环形器(680),用于将所述上路调制信号注入色散元件(690),同时将所述色散元件(690)输出的所述下路调制信号注入第一光电探测单元(710);
色散元件(690),用于对所述上路调制信号和所述下路调制信号的不同频率成分引入延时,从而构造连续时间冲击响应;
第二光环形器(685),用于将所述下路调制信号注入所述色散元件(690),同时将所述色散元件(690)输出的所述上路调制信号注入第二光电探测单元(710)。
5.根据权利要求4所述微波频率测量系统,其特征在于,所述偏振复用模拟器(620)包括,第二偏振分束器(621)、反射镜组(622)和第二偏振合束器(623);其中,通过调节所述反射镜组(622)的位置,以调节所述第一延时。
6.根据权利要求3所述微波频率测量系统,其特征在于,所述待测微波信号调制模块(500)包括:
第一偏振控制器(510),用于调整所述宽谱光波信号的偏振态与偏振复用双驱马赫泽德调制器(520)的输入主轴成45°角;
偏振复用双驱动马赫泽德调制器(520),用于将待测微波信号调制在所述宽谱光波信号上,生成调制信号;
其中,所述偏振复用双驱动马赫泽德调制器(520),包括:第一偏振分束器(521)、第一双驱动马赫泽德调制器(522)、第二双驱动马赫泽德调制器(523)和第一偏振合束器(524);
将所述待测微波信号输入所述第一双驱动马赫泽德调制器(522)内,调制在所述宽谱光波信号上,生成所述调制信号。
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