[发明专利]一种基于机器学习的微波频率测量系统与方法在审

专利信息
申请号: 202110503393.8 申请日: 2021-05-08
公开(公告)号: CN115308483A 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 石迪飞;李光毅;王璐;袁海庆;李明;祝宁华;李伟 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周天宇
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 机器 学习 微波 频率 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种微波频率测量系统,其特征在于,包括:

幅度测量模块(100),用于将待测微波信号调制在连续宽谱光波信号上,生成调制信号,以及,将所述调制信号分为上路调制信号和下路调制信号,分别引入第一延时和第二延时后,转换为第一电信号与第二电信号;

频率测量模块(200),用于计算所述第一电信号与所述第二电信号的功率比较值,基于预设的功率比较函数,得到所述待测微波信号的频率。

2.根据权利要求1所述微波频率测量系统,其特征在于,所述系统还包括功率比较函数训练模块(300),用于构建功率比较函数,所述功率比较训练模块(300)包括:

获取模块(310),用于获取多组所述第一电信号与所述第二电信号的训练数据,针对每组所述训练数据,计算所述训练数据两两之间的功率比较值,得到多个微波信号频率和相对应的所述功率比较值;

其中,所述训练数据通过将多个已知频率的微波信号输入幅度测量模块(100)得到;

函数优化模块(320),用于基于多个所述微波信号频率和相对应的所述功率比较值,利用机器学习算法拟合得到的功率比较函数。

3.根据权利要求1所述微波频率测量系统,其特征在于,所述幅度测量模块(100)包括:

光源模块(400),用于提供连续宽谱光波信号;

待测微波信号调制模块(500),用于将所述待测微波信号调制在所述宽谱光波信号上,生成调制信号;

延时引入模块(600),用于将所述调制信号分为所述上路调制信号和所述下路调制信号,并分别引入不同的延时;

光电转换模块(700),用于将所述上路调制信号和所述下路调制信号转为所述第一电信号和所述第二电信号。

4.根据权利要求3所述微波频率测量系统,其特征在于,所述延时引入模块(600)包括:

第二偏振控制器(610),用于调整所述调制信号的偏振态与偏振分复用模拟器(620)的主轴对准;

偏振分复用模拟器(620),用于将所述调制信号引入所述第一延时;

光耦合器(630),用于将所述调制信号分为上路调制信号与下路调制信号;

第一起偏器(640),用于将上路调制信号的偏振态进行偏振合束;

第三偏振控制器(650),用于调整下路调制信号的偏振态与保偏光纤主轴对准;

保偏光纤(660),用于将所述下路调制信号引入所述第二延时;

第二起偏器(670),用于将所述下路调制信号的偏振态进行偏振合束;

第一光环形器(680),用于将所述上路调制信号注入色散元件(690),同时将所述色散元件(690)输出的所述下路调制信号注入第一光电探测单元(710);

色散元件(690),用于对所述上路调制信号和所述下路调制信号的不同频率成分引入延时,从而构造连续时间冲击响应;

第二光环形器(685),用于将所述下路调制信号注入所述色散元件(690),同时将所述色散元件(690)输出的所述上路调制信号注入第二光电探测单元(710)。

5.根据权利要求4所述微波频率测量系统,其特征在于,所述偏振复用模拟器(620)包括,第二偏振分束器(621)、反射镜组(622)和第二偏振合束器(623);其中,通过调节所述反射镜组(622)的位置,以调节所述第一延时。

6.根据权利要求3所述微波频率测量系统,其特征在于,所述待测微波信号调制模块(500)包括:

第一偏振控制器(510),用于调整所述宽谱光波信号的偏振态与偏振复用双驱马赫泽德调制器(520)的输入主轴成45°角;

偏振复用双驱动马赫泽德调制器(520),用于将待测微波信号调制在所述宽谱光波信号上,生成调制信号;

其中,所述偏振复用双驱动马赫泽德调制器(520),包括:第一偏振分束器(521)、第一双驱动马赫泽德调制器(522)、第二双驱动马赫泽德调制器(523)和第一偏振合束器(524);

将所述待测微波信号输入所述第一双驱动马赫泽德调制器(522)内,调制在所述宽谱光波信号上,生成所述调制信号。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110503393.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top