[发明专利]一种温度计的非唯一性的评测方法

说明书

本发明涉及一种温度计的非唯一性的评测方法，包括：将精密测温电桥的Rs端接入标准电阻，借助转换开关使精密测温电桥的Rt端分别接入温度计，测量每支温度计在标准电阻为Rs下对应的阻值；之后，将精密电桥Rs端接入一支温度计，将Rt端分别接入其余温度计，测量这些温度计在该Rs下对应的阻值；完成一轮至多轮循环后，计算每支温度计在作为被测温度计时测得的所有阻值平均值作为该温度计阻值，利用ITS‑90温标将阻值换算成温度，比较各个温度计温度差可实现该温度下温度计的非唯一性测量。

技术领域

本发明属于计量检测领域，特别涉及一种温度计的非唯一性的评测方法。

背景技术

90国际温标是以一系列金属非金属纯物质为定义固定点，通过内插仪器(标准温度计计)、内插方程实现量值传递。对于某一特定温度子范围，使用相同类型的不同温度计对同一温度测量时，不同温度计由于铂电阻材料或者其它内在的差异等诸多方面的因素影响，使得在对温度计进行高精度测量时，即使相同类型的温度计，实际测得的温度值也会存在一定的差异，从而会给固定点以外的温度量值传递带来不确定度，该现象称之为，不同温度计对同一温度测量的非唯一性，所谓的非唯一性目前已成为大多数标准铂电阻温度计子范围的最大不确定性来源之一；另外，由于难以获得接近固定点水平的稳定恒温环境，也给非唯一性测量带来极大的难度。

因此，亟需找到实现温度非唯一性精确评测方法，以实现高精度的温度值测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种非唯一性评测方法，以获得高精度的温度测量。

本发明提供了一种温度计的非唯一性的评测方法，所述方法包括：

提供恒温槽，在所述精密恒温槽的内部装有恒温介质；

提供多阱等温热管，所述多阱等温热管设置在所述恒温槽内；

提供恒温槽盖，在所述恒温槽盖和所述多阱等温热管上设置有多个对应的孔，在所述孔中放置有温度计阱，在每个温度计阱中插入标准铂电阻温度计进行测温；

将精密测温电桥的R_s端接入标准电阻，借助转换开关使精密测温电桥的Rt端分别接入温度计S₁，S₂，…，S_n，测量每支温度计在标准电阻为R_s下对应的阻值，分别为R₀₁，R₀₂，…,R_0n；

之后，将精密电桥Rs端接入温度计S₁，将Rt端分别接入其余温度计S₂，…，S_n，测量这些温度计在该Rs下对应的阻值；

然后将精密电桥Rs端接入温度计S₂，将Rt端分别接入其余温度计S₁，S₃，…，S_n，测量这些温度计在该Rs下对应的阻值；

依此类推，直至所有温度计都被作为Rs端完成其余温度计的阻值测量，完成一轮循环；

完成一轮至多轮循环后，计算每支温度计在作为被测温度计时测得的所有阻值平均值作为该温度计阻值，利用ITS-90温标将阻值换算成温度，比较各个温度计温度差可实现该温度下温度计的非唯一性测量。

其中，所述恒温槽盖为玻璃盖。

其中，所述温度计阱为玻璃管。

其中，所述温度计阱上部为翻口开口状态，翻口直径大于恒温槽盖上的孔直径。

其中，所述温度计阱的外径小于所述恒温槽盖上小孔的内径以及多阱等温热管上小孔的内径。

本发明的方法能够降低非唯一性对温度测量的影响，提高测量精度。

附图说明