[发明专利]一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法

权利要求书

1.一种多通道相关的低频噪声测试装置，包括：

待测器件模块，用于为待测器件提供外部的偏置电压，引入待测器件需要关注的噪声信号并输出；

第一路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号；

第二路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号；

频谱分析模块，用于根据采样后的两路数据，分别计算两个通路输出信号的频谱，根据两个通路输出信号的频谱以及理想频谱转移特性计算待测器件集电极的噪声谱，以进行噪音消除，或根据两个通路输出信号的频谱计算两个通路之间的噪声转移谱曲线，以进行两个通路之间的相关性分析。

2.如权利要求1所述的一种多通道相关的低频噪声测试装置，其特征在于，所述第一路噪声测试通路与第二路噪声测试通路分别包括：

低噪声放大器模块，用于将所述待测器件模块输出的第一或第二路小信号噪声放大；

可调增益放大模块，用于依据待测器件输出的信号幅度大小选择合适的信号增益将所述低噪声放大器模块放大后的噪声信号进行再次放大输出模拟噪声信号；

低频采样模块，用于对所述可调增益放大模块输出的模拟噪声信号进行采样，将模拟噪声信号转化为第一或第二路数字噪声信号。

3.如权利要求2所述的一种多通道相关的低频噪声测试装置，其特征在于，所述频谱分析模块包括：

噪声谱计算模块，用于对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况；

相关性分析模块，用于计算两个通路之间的噪声转移谱曲线，以分析两个通路之间的相关性关系。

4.如权利要求3所述的一种多通道相关的低频噪声测试装置，其特征在于，所述噪声谱计算模块具体用于：

分别计算两个通路输出信号的频谱；

根据两个通路信号的频谱以及理想频谱转移特性计算待测器件集电极的噪声谱。

5.一种多通道相关的低频噪声分析方法，其特征在于，适用于权利要求1所述的多通道相关的低频噪声测试装置，所述多通道相关的低频噪声分析方法包括如下步骤：

步骤S1，分别计算两路输出信号的频谱；根据两个通路信号的频谱以及理想频谱转移特性计算所述待测器件集电极的噪声谱；

步骤S2，利用两个通路信号的频谱计算两个通路之间的噪声转移谱曲线，以便分析两个通路之间的相关性关系。