[发明专利]包覆率检测装置和方法、图像形成装置及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质在审

专利信息
申请号: 202110492862.0 申请日: 2021-05-07
公开(公告)号: CN113624782A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 佐藤裕哉 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G03G15/00;G03G15/08
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 金光华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 包覆率 检测 装置 方法 图像 形成 储存 有包覆率 程序 计算机 读取 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种包覆率检测装置,用于检测附着于基底粘着层的粉末对所述基底粘着层的包覆率,其中,所述包覆率检测装置具备:

光源部,将所述基底粘着层处的反射率不同的光照射到所述粉末的附着面;

受光部,单独地接收由所述粉末的附着面反射的所述反射率不同的光的反射光;以及

包覆率检测部,根据由所述受光部接收到的所述反射光的各受光量来检测所述包覆率。

2.根据权利要求1所述的包覆率检测装置,其中,

所述反射率不同的光是被所述基底粘着层吸收的吸收波长光和针对所述基底粘着层的吸收量比所述吸收波长光少的非吸收波长光。

3.根据权利要求1或者2所述的包覆率检测装置,其中,

所述包覆率检测装置具备特性保持部,该特性保持部保持针对所述包覆率的所述各受光量的特性,

所述包覆率检测部计算所述各受光量的差分,根据计算出的所述差分和保持于所述特性保持部的所述特性来检测所述包覆率。

4.根据权利要求3所述的包覆率检测装置,其中,

所述包覆率检测装置具备校正系数保持部,该校正系数保持部针对所述粉末的每个种类、所述反射率不同的光的每个波长,保持不论所述包覆率如何各所述反射光的受光量都成为1:1的校正系数,

在所述包覆率检测部中,

根据检测所述包覆率时的所述粉末的种类和所述反射率不同的光的波长,从所述校正系数保持部取得在所述包覆率的检测中使用的校正系数,

根据所取得的所述校正系数来校正所述特性保持部保持的特性,并根据校正后的所述特性来检测所述包覆率。

5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述反射率不同的光是从相对于所述粉末的附着面而倾斜的方向照射的光,

各所述反射光是使所述反射率不同的光在所述粉末的附着面正反射而得到的正反射光。

6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述光源部具备分别照射所述反射率不同的光的多个光源。

7.根据权利要求1~5中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述光源部具备:

光源,照射所述反射率不同的所有光;以及

多个滤波器,使所述反射率不同的光分别单独地通过,

在所述光源的光射出面,调换自如地设置所述多个滤波器。

8.根据权利要求1~7中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述受光部具备分别单独地接收由所述粉末的附着面反射的各所述反射光的多个受光元件。

9.根据权利要求1~7中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述受光部具备:

受光元件,将由所述粉末的附着面反射的各所述反射光全部接收;以及

多个滤波器,使各所述反射光分别单独地通过,

在所述受光元件的受光面,调换自如地设置所述多个滤波器。

10.根据权利要求1~9中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述包覆率检测装置具备光源调整部,该光源调整部以使对未附着有所述粉末的所述基底粘着层照射所述反射率不同的光而得到的所述各受光量成为预定值的方式,调整与所述受光量对应的来自所述光源部的输出。

11.根据权利要求1~10中的任意一项所述的包覆率检测装置,其中,

所述包覆率检测装置具备校正指示部,该校正指示部根据由所述包覆率检测部检测到的包覆率,对使所述粉末附着于所述基底粘着层的装置的驱动控制部指示驱动条件的校正。

12.一种图像形成装置,用于形成将粉末粘附于形成在记录介质的一个主面上的图像图案而成的图像,其中,

所述图像形成装置具备权利要求1~11中的任意一项所述的包覆率检测装置。

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