[发明专利]一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法及装置

权利要求书

1.一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法，其特征在于，所述并行工位包括两个以上并联的工位，所述标准工件包括两种类型，两种类型的所述标准工件为第一标准工件和第二标准工件，每种类型的标准工件的数量等于或大于所述工位的数量，所述方法包括以下步骤：

S1、获取各工位上的工件的类型，当检测到工位上的工件为所述第一标准工件时，使工位上的所述第一标准工件停止流动；

S2、获取其它工位上的工件的类型，判断是否为所述第一标准工件，若为所述第一标准工件，则执行S3，否则执行S4，其中，其它工位是指除了已经检测到所述第一标准工件的工位以外的工位；

S3、使其它工位上的所述第一标准工件停止流动；

S4、使没有检测到所述第一标准工件的其它工位上的工件继续流动；

S5、重复执行S2～S4，直至所有工位上的工件均为所述第一标准工件；

S6、对各工位上的所述第一标准工件进行测试，并获取各工位的第一测试结果；

S7、将各工位上的所述第一标准工件放行；

S8、获取各工位上的工件的类型，当检测到工位上的工件为所述第二标准工件时，使工位上的所述第二标准工件停止流动；

S9、获取其它工位上的工件的类型，判断是否为所述第二标准工件，若为所述第二标准工件，则执行S10，否则执行S11，其中，其它工位是指除了已经检测到所述第二标准工件的工位以外的工位；

S10、使其它工位上的所述第二标准工件停止流动；

S11、使没有检测到所述第二标准工件的其它工位上的工件继续流动；

S12、重复执行S9～S11，直至所有工位上的工件均为所述第二标准工件；

S13、对各工位上的所述第二标准工件进行测试，并获取各工位的第二测试结果；

S14、根据各工位的所述第一测试结果、所述第二测试结果和被测试的标准工件的类型，判断各工位的测试结果是否准确。

2.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法，其特征在于，所述S6具体包括：同时对各工位上的所述第一标准工件进行测试，并获取各工位的第一测试结果；

所述S7具体包括：同时将各工位上的所述第一标准工件放行；

所述S13具体包括：同时对各工位上的所述第二标准工件进行测试，并获取各工位的第二测试结果。

3.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法，其特征在于，所述第一标准工件的数量、所述第二标准工件的数量和所述工位的数量相等。

4.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法，其特征在于，所述并行工位包括流入传送带和流出传送带，所述流入传送带用于将工件输送至工位上，所述流出传送带用于将工位上的工件输送至工位外，所述S1之前还包括以下步骤：

将多个所述第一标准工件依次放入所述流入传送带；

将多个所述第二标准工件依次放入所述流入传送带。

5.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法，其特征在于，所述并行工位包括流入传送带和流出传送带，所述流入传送带用于将工件输送至工位上，所述流出传送带用于将工位上的工件输送至工位外，所述S1之前还包括以下步骤：

将多个所述第一标准工件和多个所述第二标准工件按照随机顺序放入所述流入传送带。

6.如权利要求1所述的一种利用标准工件对并行工位进行校验的方法，其特征在于，所述S1具体包括：

利用射频识别技术获取各工位上的工件的类型。