[发明专利]用于材料透光率检测装置的光源模组及透光率检测装置

说明书

本发明公开了用于材料透光率检测装置的光源模组，包括：点光源，其用于发射复合的光束；采集部，其上设置有用于捕捉部分该光束的取光孔；设置在点光源和采集部间的光学元件以拦截光束，光学元件包括互不平行的入射面及出射面，光束经由入射面、出射面后折射形成光谱带；以及，用于调节光学元件、点光源、采集部中任一部件位置的位移调节部。本发明还公开了一种透光率检测装置。在位移调节部的带动下，调节取光孔在光谱带上的位置，以改变取光孔捕捉的部分光束内各波长强度占比。

技术领域

本发明涉及透光率检测技术领域，具体涉及用于材料透光率检测装置的光源模组，还具体涉及一种透光率检测装置。

背景技术

在透光材料的检测过程中，其透光率是衡量材料质量的最重要的参数之一；而一般来说待检测的材料数量较多，若通过单一光波逐一检测，其效率较为低下，为了提高检测效率，常采用复合光进行穿透测试以提高检测的效率，但是，常见的光源内各波段的光波强度占比相差较大，往往会导致部分强度占比低的光波只有少量或未能穿过待检测材料，而严重影响了该光波的检测精度；为了使得强度占比低的光波大量穿透，势必需要将光源的强度提高，此时，原本强度占比高的光波近一步提高，易使得其强度超过检测器的检测范围。

尤其是对于部分透光材料而言，其本身构成材质的特性使得它对于不同波长的光波存在有不同的透光率，以手机的显示屏玻璃为例，为了保护用户的视力，在设计显示屏时，低波长的光波透光率要远小于高波长的光波，从而使得显示屏的玻璃获得防紫外线的特性，这就造成了低波长光更难透过显示屏。

目前在显示屏的生产过程中，需要对显示屏玻璃的透光率检测以判断显示屏的质量。发明人在现有检测的过程中发现了如下的问题：

首先，考虑到构建检测系统的复杂程度，现检测过程中常采用的光源为钨灯，而在钨灯的全光谱中的低波强度占比较低，而高波长占强度比较高，这就造成了高波长光穿透显示屏后，低波长光可能只有少量甚者未能穿透显示屏，从而导致了对低波长检测的精度降低；而当增大钨灯的光强，又会使得高波长光的强度近一步增大，从而导致高波长的强度超过检测设备的检测范围，造成检测失败的问题，甚者光强度过高将对检测仪器造成损伤。

有鉴于此，实有必要开发一种用于材料透光率检测装置的光源模组，用于解决上述问题。

发明内容

针对现有技术中存在的不足之处，本发明的主要目的是，提供用于材料透光率检测装置的光源模组，其通过复合光在透过同一光学介质时对不同波长光的折射率不同原理，光源发出的复合光束色散成光谱带，从而捕捉光谱带中不同位置处的部分光束以实现调节各波长强度占比。

本发明的另一个目的是，提供用于材料透光率检测装置的光源模组，其通过凸透镜放大成像原理，将复合光以谱带的形式成像在不同的位置范围内，方便位移调节部调节位置以提高取光孔的抓取精度。

为了实现根据本发明的上述目的和其他优点，提供了一种用于材料透光率检测装置的光源模组，包括：

点光源，其用于发射连续光谱的光束；

采集部，其上设置有用于捕捉部分该光束的取光孔、出射孔，所述取光孔捕获的部分光束经由所述出射孔射出；

设置在所述点光源和所述采集部间的光学元件以拦截所述光束，所述光学元件包括互不平行的入射面及出射面，所述光束经由所述入射面、出射面折射形成光谱带；以及

用于调节所述光学元件、点光源、采集部中任一部件位置的位移调节部；

其中，在所述位移调节部的带动下，改变所述取光孔在光谱带上的位置，以调整所述取光孔捕捉的部分光束内各波长强度占比，通过所述取光孔捕捉的部分光束投射待检测材料，以使得光束内各波长穿透待检测材料并被透光率检测装置的检测部捕捉。

优选地，所述采集部安装在所述位移调节部上，所述采集部在所述位移调节部的驱动下，沿色散分光方向移动。