[发明专利]对定位不正确的读取电压的检测

说明书

本申请涉及对定位不正确的读取电压的检测。一种存储器装置，其对存储器单元群组进行编程以在每一存储器单元中存储多个位。所述群组中的每一存储器单元的每一位来自页。在确定所述存储器单元群组的多个读取电压之后，所述存储器装置可使用所述多个读取电压读取所述群组的多个页。针对所述多个页中的每一相应页，所述存储器装置可确定所述相应页中第一存储器单元的计数，所述第一存储器单元的阈值电压高于用于读取所述相应页的所述多个读取电压中最高的读取电压。可将所述第一存储器单元的所述计数与所述相应页中存储器单元的一部分的预定范围进行比较，以评估所述多个读取电压(例如，所述读取电压中的任一个是否处于错误电压范围)。

技术领域

本文所公开的至少一些实施例大体上涉及存储器系统，且更确切地说，但不限于配置成检测定位不正确的读取电压的存储器系统。

背景技术

一种存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可以是例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统将数据存储在存储器装置处且从存储器装置检索数据。

发明内容

一方面，本申请提供一种存储器装置，其包括：集成电路封装，其围封所述存储器装置；以及多个存储器单元群组，其形成于至少一个集成电路裸片上；其中响应于识别所述多个群组内的存储器单元群组的命令，所述存储器装置配置成对所述存储器单元群组进行编程以在每一存储器单元中存储多个位，所述存储器单元群组包含分别对应于每一存储器单元的所述多个位的多个页；确定所述存储器单元群组的多个读取电压；使用所述多个读取电压读取所述多个页；针对所述多个页中的每一相应页，确定所述相应页中第一存储器单元的计数，其中所述第一存储器单元中的每一个的阈值电压高于用于读取所述相应页的所述多个读取电压中最高的读取电压；以及将所述第一存储器单元的所述计数与所述相应页中存储器单元的一部分的预定范围进行比较，以评估所述多个读取电压。

另一方面，本申请还提供一种方法，其包括：对存储器装置中的存储器单元群组进行编程以在每一存储器单元中存储多个位，所述存储器单元群组包含分别对应于每一存储器单元的所述多个位的多个页；确定所述存储器单元群组的多个读取电压；使用所述多个读取电压读取所述多个页；针对所述多个页中的每一相应页，确定所述相应页中第一存储器单元的计数，其中所述第一存储器单元中的每一个的阈值电压高于用于读取所述相应页的所述多个读取电压中最高的读取电压；以及将所述第一存储器单元的所述计数与所述相应页中存储器单元的一部分的预定范围进行比较，以评估所述多个读取电压。

再一方面，本申请还提供一种存储器子系统，其包括：处理装置；以及至少一个存储器装置，所述存储器装置具有形成于集成电路裸片上的存储器单元群组，所述存储器单元群组编程成在每一存储器单元中存储多个位，所述存储器单元群组包含分别对应于每一存储器单元的所述多个位的多个页；其中所述处理装置配置成将具有标识所述存储器单元群组的地址的命令传输到所述存储器装置；其中响应于所述命令，所述存储器装置配置成：确定所述存储器单元群组的多个读取电压；使用所述多个读取电压读取所述多个页；针对所述多个页中的每一相应页，确定所述相应页中第一存储器单元的计数，其中所述第一存储器单元中的每一个的阈值电压高于用于读取所述相应页的所述多个读取电压中最高的读取电压；以及将所述第一存储器单元的所述计数与所述相应页中存储器单元的一部分的预定范围进行比较，以评估所述多个读取电压。

附图说明

在附图的图式中作为实例而非限制示出实施例，在附图中，相同的参考标号指示类似元件。

图1示出根据本公开的一些实施例的具有存储器子系统的实例计算系统。

图2示出根据一个实施例的具有配置成测量信号和噪声特性的校准电路的集成电路存储器装置。

图3展示根据一个实施例的测量信号和噪声特性以改进存储器操作的实例。

图4-6示出根据一个实施例的根据计数差计算优化读取电压的技术。