[发明专利]三轴磁阻磁场传感器及制作方法在审

专利信息
申请号: 202110474811.5 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113341354A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 朱大鹏;李迎港;赵巍胜 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 磁阻 磁场 传感器 制作方法
【权利要求书】:

1.一种三轴磁阻磁场传感器,包括:磁阻传感单元和导线连接电路;其特征在于:所述的磁阻传感单元进一步包括磁阻单元和传感单元,所述的磁阻单元由磁阻膜堆制成,传感单元由一个或多个磁阻单元组成;

所述的磁阻膜堆包括:自下而上依次为:基底、自旋产生层、铁磁金属层和覆盖层;

所述的铁磁金属层具有垂直各向异性,当施加不同方向或不同大小的电流时,会引起磁矩偏向不同的方向。

2.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为Ta、W、Pt、Hf、Au、Hf、Mo重金属中的一种或Ti非磁金属。

3.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为Bi2Se3、Bi2Te3、Sb2Te3或(BixSb1-x)2Te3晶体薄膜中的一种。

4.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为BixSe1-x多晶或非晶薄膜。

5.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为WTe2、MoTe2或MoxW1-xTe2单晶、多晶或非晶外耳半金属薄膜。

6.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:铁磁金属层为CoxFe1-x、(CoxFe1-x)1-yBy、Co、CoxNi1-x或CoxPt1-x中的一种。

7.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:覆盖层主要为:MgO、Al2Ox、SiO2、SiNX中的一种。

8.如权利要求1-7中任意一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:磁阻传感单元刻蚀成圆形、正方形或具有扁长形状的图形,并且电流要沿着短轴方向流经各个磁阻传感单元。

9.一种如权利要求1-8所述的三轴磁阻传感器的制作方法,步骤如下:

S1、在衬底上沉积磁阻膜堆,退火,使其具有垂直各向异性;

S2、将磁阻膜堆用光刻和刻蚀工艺将其图形化,刻蚀膜堆直到衬底,制成两组相互平行的形状;

S3、沉积铁磁金属层并图形化制作电极,将各个磁阻传感单元连接成全惠斯通电桥即X轴和Y轴,同时制作另一个半惠斯通电桥即Z轴。

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