[发明专利]三轴磁阻磁场传感器及制作方法在审
| 申请号: | 202110474811.5 | 申请日: | 2021-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN113341354A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
| 发明(设计)人: | 朱大鹏;李迎港;赵巍胜 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
| 主分类号: | G01R33/09 | 分类号: | G01R33/09 |
| 代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁阻 磁场 传感器 制作方法 | ||
1.一种三轴磁阻磁场传感器,包括:磁阻传感单元和导线连接电路;其特征在于:所述的磁阻传感单元进一步包括磁阻单元和传感单元,所述的磁阻单元由磁阻膜堆制成,传感单元由一个或多个磁阻单元组成;
所述的磁阻膜堆包括:自下而上依次为:基底、自旋产生层、铁磁金属层和覆盖层;
所述的铁磁金属层具有垂直各向异性,当施加不同方向或不同大小的电流时,会引起磁矩偏向不同的方向。
2.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为Ta、W、Pt、Hf、Au、Hf、Mo重金属中的一种或Ti非磁金属。
3.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为Bi2Se3、Bi2Te3、Sb2Te3或(BixSb1-x)2Te3晶体薄膜中的一种。
4.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为BixSe1-x多晶或非晶薄膜。
5.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:自旋产生层为WTe2、MoTe2或MoxW1-xTe2单晶、多晶或非晶外耳半金属薄膜。
6.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:铁磁金属层为CoxFe1-x、(CoxFe1-x)1-yBy、Co、CoxNi1-x或CoxPt1-x中的一种。
7.根据权利要求1所述的一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:覆盖层主要为:MgO、Al2Ox、SiO2、SiNX中的一种。
8.如权利要求1-7中任意一种三轴磁阻磁场传感器,其特征在于:磁阻传感单元刻蚀成圆形、正方形或具有扁长形状的图形,并且电流要沿着短轴方向流经各个磁阻传感单元。
9.一种如权利要求1-8所述的三轴磁阻传感器的制作方法,步骤如下:
S1、在衬底上沉积磁阻膜堆,退火,使其具有垂直各向异性;
S2、将磁阻膜堆用光刻和刻蚀工艺将其图形化,刻蚀膜堆直到衬底,制成两组相互平行的形状;
S3、沉积铁磁金属层并图形化制作电极,将各个磁阻传感单元连接成全惠斯通电桥即X轴和Y轴,同时制作另一个半惠斯通电桥即Z轴。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110474811.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





