[发明专利]引晶亮度的计算方法、系统、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种引晶亮度的计算方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取不同温度下的多张熔融硅液表面的拍摄图像；

从每张拍摄图像中提取图像亮度值l；

从每张拍摄图像中提取交界光圈，所述交界光圈为籽晶和熔融硅液交界处形成的光圈；

计算所有拍摄图像中交界光圈的光圈形态量化值s；

以图像亮度值l对所有拍摄图像进行分类；

取每类拍摄图像的光圈形态量化值s的平均值，得到平均光圈形态量化值

将最大的平均光圈形态量化值对应的图像亮度值l确定为引晶亮度。

2.根据权利要求1所述的引晶亮度的计算方法，其特征在于，所述光圈形态量化值s根据以下步骤确定：

对拍摄图像的光圈区域进行处理得到光圈掩膜；

提取光圈掩膜的轮廓得到光圈掩膜的轮廓坐标点集P；

从轮廓坐标点集P中提取下轮廓坐标点集P1；

从所述下轮廓坐标点集P1中提取标准轮廓坐标点集P2；

用所述标准轮廓坐标点集P2进行椭圆拟合，得到标准拟合椭圆线段；

从所述标准轮廓坐标点集P2中提取外凸坐标点集P3；

计算所述外凸坐标点集P3与标准拟合椭圆线段的偏差率，得到标准偏差率；

提取所有标准偏差率中大于第二设定阈值的数值，得到最终偏差率；

确定若干组连续N个大于第三设定阈值的最终偏差率集；其中，N≥3；

计算每组最终偏差率集的平均最终偏差率；

取最大的平均最终偏差率做为所述拍摄图像的光圈形态量化值s。

3.根据权利要求2所述的引晶亮度的计算方法，其特征在于，所述标准轮廓坐标点集P2根据以下步骤确定：

用所述下轮廓坐标点集P1进行椭圆拟合，得到初次拟合椭圆线段；

计算下轮廓坐标点集P1与初次拟合椭圆线段的偏差率，得到初次偏差率；

提取所有初次偏差率中大于第一设定阈值的数值，得到二次偏差率；

从所述下轮廓坐标点集P1中提取与所述二次偏差率对应的轮廓点坐标得到标准轮廓坐标点集P2。

4.根据权利要求3所述引晶亮度的计算方法，其特征在于，所述椭圆拟合的方法为最小二乘法；

所述初次拟合椭圆线段为通过下轮廓坐标点集P1拟合所得的椭圆曲线中，与所述下轮廓坐标点集P1对应的线段；

所述标准拟合椭圆线段为通过标准轮廓坐标点集P2拟合所得的椭圆曲线中，与所述标准轮廓坐标点集P2对应的线段。

5.根据权利要求3所述的引晶亮度的计算方法，其特征在于，设坐标点集U中共有M个点，即U＝{U₁，U₂…，U_i…，U_M}，i∈(1，2，3…，M)，其中U_i的坐标为(X_ui，Y_ui)，根据如下方法计算坐标点集U与椭圆线段的偏差率：

获取椭圆线段的中心点O_u坐标(O_ux，O_uy)；

获取中心点O_u与U_i所在直线与椭圆线段的交点Q_i的坐标(Q_ix，Q_iy)；

计算U_i到Q_i的距离r_i；

计算O_u到Q_i的距离R_i；

计算U_i与椭圆线段的偏差率k_i，k_i＝r_i/R_i；

当所述坐标点集U为下轮廓坐标点集P1，椭圆线段为初次拟合椭圆线段时，计算得到的偏差率为初次偏差率；

当所述坐标点集U为标准轮廓坐标点集P2，椭圆线段为标准拟合椭圆线段时，计算得到的偏差率为标准偏差率。