[发明专利]一种低温用密封圈的性能测试装置、测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202110467356.6 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113029552A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 由鑫;张佳;闫志强;高蓓 申请(专利权)人: 北京裕泰行新材料科技有限公司
主分类号: G01M13/005 分类号: G01M13/005;F16K5/06;F16K5/20
代理公司: 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 代理人: 张肖
地址: 100089 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 低温 密封圈 性能 测试 装置 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种低温用密封圈的性能测试装置,其特征在于,包括检测装置本体,所述检测装置本体上至少设有模拟第一待检测球座间密封圈(4)使用状态的第一安装位置、模拟待检测单向密封弹簧蓄能圈(2)使用状态的第二安装位置、模拟待检测双向密封弹簧蓄能圈(11)使用状态的第三安装位置及模拟第二待检测球座间密封圈(14)使用状态的第四安装位置,且所述检测装置本体能够使所述第一待检测球座间密封圈(4)在所述第一安装位置形成第一密封腔(27)、使所述待检测单向密封弹簧蓄能圈(2)在所述第二安装位置形成第二密封腔(23)、使所述待检测双向密封弹簧蓄能圈(11)在所述第三安装位置形成第三密封腔(33)及使所述第二待检测球座间密封圈(14)在所述第四安装位置形成第四密封腔(25),在所述检测装置本体上设有能够向所述第一密封腔(27)内通气的第二进压口(22)、向所述第二密封腔(23)通气的第一进压口(20)、向所述第三密封腔(33)通气的第三进压口(30)、向所述第四密封腔(25)通气的第四进压口(32)、位于所述检测装置本体左侧的第一检漏进压口(21)、位于所述检测装置本体右侧的第二检漏进压口(31)和检漏口(40);

通过所述第一进压口(20)向第二密封腔(23)内通气并基于所述检漏口(40)所检测到的待检测单向密封弹簧蓄能圈(2)的第一泄漏量Q3以判定待检测单向密封弹簧蓄能圈(2)的性能;

通过所述第三进压口(30)向所述第三密封腔(33)通气并基于所述检漏口(40)所检测到的待检测双向密封弹簧蓄能圈(11)的第二泄漏量A3以判定待检测双向密封弹簧蓄能圈(11)的性能;

通过所述第一进压口(20)、第二进压口(22)和第一检漏进压口(21)同时向第一密封腔(27)和第二密封腔(23)通气并根据所述检漏口(40)所检测到的待检测单向密封弹簧蓄能圈(2)和第一待检测球座间密封圈(4)的第一总泄漏量Q1,基于第一总泄漏量Q1与待检测单向密封弹簧蓄能圈的第一分泄漏量Q2之差判定第一待检测球座间密封圈(4)的性能;和

通过所述第三进压口(30)、第四进压口(32)和第二检漏进压口(31)同时向第三密封腔(33)和第四密封腔(25)通气并根据所述检漏口(40)所检测到的待检测双向密封弹簧蓄能圈(11)和第二待检测球座间密封圈(14)的第二总泄漏量A1,基于第二总泄漏量A1与待检测双向密封弹簧蓄能圈的第二分泄漏量A2之差判定第二待检测球座间密封圈(14)的性能。

2.根据权利要求1所述的低温用密封圈的性能测试装置,其特征在于,所述检测装置本体包括阀体(6)、球体(5)、左阀座(7)、右阀座(15)、左盖(8)、右盖(13)、左盲板(9)和右盲板(16),其中,所述球体(5)安装于所述阀体(6)内部,所述左阀座(7)和所述右阀座(15)安装于所述球体(5)的左右两侧,在所述左阀座(7)和所述右阀座(15)的内部分别设有用于在所述球体(5)与所述左阀座(7)之间形成第一密封腔(27)或在所述球体(5)与所述右阀座(15)之间形成第四密封腔(25)的隔板(26),第一待检测球座间密封圈(4)和第二待检测球座间密封圈(14)分别安装于所述球体(5)与左阀座(7)之间和所述球体(5)与右阀座(15)之间;所述左盖(8)和所述右盖(13)分别安装于所述左阀座(7)和所述右阀座(15)的外侧,所述左盲板(9)和所述右盲板(16)分别固定至所述左盖(8)和所述右盖(13)的外侧,所述检漏口(40)设置在所述阀体(6)上。

3.根据权利要求2所述的低温用密封圈的性能测试装置,其特征在于,所述第二进压口(22)和所述第四进压口(32)分别设置在所述左盲板(9)和所述右盲板(16)上,且所述第二进压口(22)和所述第四进压口(32)分别通过第一管道(10)和第二管道(17)与位于所述隔板(26)上的通孔(24)相连通,以便通过第二进压口(22)或第四进压口(32)分别向所述第一密封腔(27)和第四密封腔(25)内通气。

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