[发明专利]用于检查培养样品的显微镜和包括该显微镜的系统以及相应的方法

权利要求书

1.一种用于对样品(120)进行显微镜检查的显微镜(100)，包括：

显微镜壳体(102)，所述显微镜壳体包围照明光学器件(118)、显微镜台(116)和成像光学器件(124)，

集成的样品室(106)，所述样品室位于所述显微镜壳体(102)内并且由位于所述显微镜壳体(102)内的单独的壳体区段(104)形成，

所述壳体区段(104)包括盖(109)，所述盖允许直接接近所述显微镜台(116)，以用于将所述样品(120)放置在所述样品室(106)中，其中所述壳体区段(104)包括用于将外部培养环境调节单元(110)连接到所述样品室(106)的接口(108)，

所述接口(108)构造为提供所述外部培养环境调节单元(110)和所述样品室(106)之间的连接，使得在所述外部培养环境调节单元(110)被连接到所述接口(108)时，所述样品室(106)中的环境条件能够被控制。

2.根据权利要求1所述的显微镜(100)，其中所述壳体区段(104)构造为使得当所述盖(109)关闭时，所述样品室(106)被密封。

3.根据权利要求1或2所述的显微镜(100)，其中所述壳体区段(104)至少部分地包围所述显微镜台(116)和用于将所述样品(120)放置在所述显微镜台(116)上的工作区域。

4.根据权利要求3所述的显微镜(100)，其中所述壳体区段(104)附加地包围所述照明光学器件(118)。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的显微镜(100)，其中所述壳体区段(104)被包括所述显微镜台(116)的上侧的工作表面(107)限定。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的显微镜(100)，其中所述接口(108)包括至少一个开口(112)，所述至少一个开口构造为接收导管(114)，所述导管连接到所述外部培养环境调节单元(110)，

或者所述接口包括至少一个开口(112)，所述至少一个开口包括可连接到所述外部培养环境调节单元(110)的导管(114)。

7.根据权利要求6所述的显微镜(100)，其中所述至少一个开口(112)构造为当在没有所述外部培养环境调节单元(110)的情况下操作所述显微镜(100)时，所述至少一个开口以不透光的方式关闭。

8.根据权利要求6或7所述的显微镜，其中所述接口(108)包括用于各个导管(114)的多个开口(112)，所述导管用于供给和排出培养气氛。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的显微镜，包括用于感测培养气氛的至少一个参数的至少一个传感器。

10.根据权利要求9所述的显微镜，其中至少一个传感器至少部分地集成到所述至少一个导管的导管(114)中。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的显微镜，其中所述接口(108)位于所述壳体区段(104)的背侧。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的显微镜(100)，其中所述显微镜(100)是倒置透射光显微镜，其中所述壳体区段(104)至少部分地包围所述显微镜的所述显微镜台(116)和作为所述显微镜的所述照明光学器件(118)的透射光照明单元，并且其中第二壳体区段(122)至少部分地包围所述显微镜的所述成像光学器件(124)。

13.根据权利要求12所述的显微镜(100)，其中所述第二壳体部分(122)构造为能够被调节空气和/或被控制温度。