[发明专利]一种显示屏的校准方法及设备有效
申请号: | 202110464088.2 | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN112885289B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 刘璐宁;郑增强;冯晓帆;张胜森 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;G09G5/10 |
代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 张凯 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示屏 校准 方法 设备 | ||
本发明公开了一种显示屏的校准方法及设备,涉及大显示屏的测量和校准领域,该方法包括以下步骤:测量参考显示屏的视角特性,以建立视角与校正系数对应关系的视角校正模型;对目标显示屏进行取像,获得目标显示屏的亮度和/或色度相关数据,并基于取像条件获取相机各像元对应的视角;基于视角校正模型和各像元对应的视角,对目标显示屏的亮度和/或色度相关数据进行视角校正,得到视角校正后的相关数据;基于视角校正后的相关数据得到目标显示屏的亮度和/或色度数据。本发明中能消除显示屏视角特性对取像数据精度的影响,且能降低对显示屏分块取像的成本和难度。
技术领域
本发明涉及大尺寸显示屏的测量和校准领域,具体涉及一种显示屏的校准方法及设备。
背景技术
随着显示技术的快速发展,显示屏的应用已经不再局限于手机、平板、电脑等小面积屏,几十甚至几百平米的超大面积显示屏已慢慢走入市场,用于室内展示、户外广告等等。
超大面积显示屏通常由多个大单元屏拼接而成,而每个大单元屏又经多块更小的单元屏拼接组成,每个单元屏均由各自的FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)独立控制。由于超大面积显示屏在使用时人眼工作距离较大,因此对缺陷检测与补偿的精度要求不如小面积屏高,但为保证整块屏的质量和均匀性,仍需进行AOI(Automated Optical Inspection,自动光学检测)、Demura(Mura缺陷补偿的过程)等技术操作。显示屏的视角特性是指显示屏的亮度随视角变化的特性,不同种类显示屏的视角特性差异很大,如OLED(OrganicLight-Emitting Diode,有机发光二极管)、LCD(LiquidCrystal Display,液晶显示器)屏的亮度随视角的分布近似朗博分布,而miniLED、microLED却因其独特且复杂的像元结构有着与OLED、LCD截然不同的视角特性。当相机对面积较大的显示屏取像时,使用较大屏占比取像,那么相机边缘成像的视角将会很大,从相机视野中心至边缘视角逐渐增大,取像数据受视角的影响也逐渐增大,那么相机取像数据除包含镜头导致的暗角影响外,还会受显示屏视角特性影响额外导致一个衰减。虽然对相机常规取像的校准仅校正镜头导致的暗角即可,这部分已有成熟方法,但是对大面积显示屏取像则需另外校准显示屏的视角特性的影响。
另外,针对需要进行大尺寸需要进行分区域取像的显示屏,通常是固定相机的取像条件,如相机的工作距离、聚焦程度、曝光时间、相机与显示屏的相对位置等,要求相机对每个区域显示屏的拍摄条件需严格一致,通过制作显示屏的导轨来平移单元屏的方式实现对各单元屏的依次取像,取像后直接将各单元屏的取像数据拼接至一起得到相机拍摄整块大屏的数据,而后进行Demura等处理。该方法要求相机对各单元屏取像条件严格一致,是为了便于将各单元屏的取像数据直接拼接,但实现成本很高且做到完全一致的难度较大,拼接精度受对各单元屏取像条件的一致性影响。对各单元屏取像条件不一致也会导致各单元屏的取像数据受视角特性的影响程度不一致,如果视角特性不做校正会严重影响显示屏的亮度测量精度,进而影响后续Demura效果以及AOI检测、色度亮度测量等精度。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷,本发明第一方面提供一种能消除显示屏视角特性对取像数据精度的影响,且能降低对显示屏分块取像的成本和难度的显示屏的校准方法。
为达到以上目的,本发明采取的技术方案是:
一种显示屏的校准方法,该方法包括以下步骤:
测量参考显示屏的视角特性,以建立视角与校正系数对应关系的视角校正模型;
对目标显示屏进行取像,获得目标显示屏的亮度和/或色度相关数据,并基于取像条件获取相机各像元对应的视角;
基于所述视角校正模型和所述各像元对应的视角,对所述目标显示屏的亮度和/或色度相关数据进行视角校正,得到视角校正后的相关数据;
基于所述视角校正后的相关数据得到目标显示屏的亮度和/或色度数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司,未经武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110464088.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。