[发明专利]一种微控制单元处理方法及相关设备

说明书

本申请实施例公开了一种微控制单元处理方法，应用于主控微控制单元，包括：向被测微控制单元发送测试指令，以使得所述被测微控制单元依据所述测试指令进行测试，并向所述主控微控制单元返回测试结果；判断所述测试结果是否符合预设要求；若所述测试结果符合预设要求，则向所述被测微控制单元传输程序固件。被测微控制单元的测试及固件写入过程都由主控微控制单元实施完成，提高了设备的集成程度，避免了对微控制单元所需使用的多个设备，提高了对微控制单元的处理效率。本申请实施例还提供了一种微控制单元处理设备，具有上述相同的有益效果。

技术领域

本申请实施例涉及硬件处理领域，尤其涉及一种微控制单元处理方法及相关设备。

背景技术

微控制单元(Microcontroller Unit；MCU)，又称单片微型计算机(SingleChipMicrocomputer)或者单片机，是把中央处理器(Central Process Unit；CPU)的频率与规格做适当缩减，并将内存(memory)、计数器(Timer)、USB、A/D转换、UART、SPI、IIC、DMA等周边接口，甚至LCD驱动电路都整合在单一芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。诸如手机、PC外围、遥控器，至汽车电子、工业上的步进马达、机器手臂的控制等，都可见到MCU的身影。

现有的微控制单元从生产完成到交付客户使用需要经过功能测试(FunctionalTest，FT)以及应用程序固件的烧录，才能获得符合客户要求，具备一定功能的合格微控制单元。

在进行微控制单元功能测试时，需使用具有测试固件的主控微控制单元与被测微控制单元连接，并完成相应测试，功能测试合格的被测微控制单元需要额外使用烧录器进行处理，才可以将应用程序固件传输至待测微控制单元的闪存中，最终获得具备一定功能的合格微控制单元。这一过程需要使用多个设备对待测微控制单元进行处理，存在一定不便。

发明内容

本申请实施例第一方面提供了一种微控制单元处理方法，应用于主控微控制单元，包括：

向被测微控制单元发送测试指令，以使得所述被测微控制单元依据所述测试指令进行测试，并向所述主控微控制单元返回测试结果；

判断所述测试结果是否符合预设要求；

若所述测试结果符合预设要求，则向所述被测微控制单元传输程序固件。

基于本申请实施例第一方面提供的微控制单元处理方法，可选的，所述向被测微控制单元发送测试指令，之前，所述方法还包括：

向所述被测微控制单元发送功能测试固件，所述功能测试固件用于支持所述被测微控制单元依据所述测试指令进行测试。

基于本申请实施例第一方面提供的微控制单元处理方法，可选的，所述向所述被测微控制单元传输程序固件，包括：

向所述被测微控制单元的随机存取存储器传输编程算法及程序固件，以使得所述被测微控制单元运行所述编程算法，将所述程序固件存储至所述被测微控制单元的闪存中。

基于本申请实施例第一方面提供的微控制单元处理方法，可选的，所述编程算法存储于所述被测微控制单元的随机存取存储器的特定位置。

基于本申请实施例第一方面提供的微控制单元处理方法，可选的，所述方法还包括：

向所述被测微控制单元发送校验指令，以使得所述被测微控制单元依据所述程序固件执行所述校验指令，并向所述主控微控制单元返回控制结果。

本申请实施例第二方面提供了一种微控制单元处理方法，应用于被测微控制单元，包括：

接收主控微控制单元发送的测试请求；

依据所述测试请求进行测试，并向所述主控微控制单元返回测试结果；